IST2009-46 | CMOSセンサにおけるトランスファゲート負バイアス印加時の暗電流解析 山下浩史・前田基宏・古屋晶吾・矢神貴規(東芝) |
IST2009-47 | CMOSイメージセンサの暗電流に対する負電圧駆動および光ストレスの効果 渡辺恭志・朴 鍾皓・青山 聡・磯部圭吾(ブルックマン テクノロジ),川人祥二(ブルックマン テクノロジ/静岡大) |
IST2009-48 | CMOSイメージセンサの画素サイズ縮小と特性比較 G. Agranov・R. Mauritzson・J. Ladd・A. Dokoutchaev・X. Fan・X. Li・Z. Yin・R. Johnson・V. Lenchenkov・S. Nagaraja・W. Gazeley・J. Bai・H. Lee・瀧澤義順(アプティナ) |
IST2009-49 | Noise Reduction Effects of Column-Parallel Multiple Sampling Circuits Sungho Suh・Shinya Itoh・Tetsuya Iida・Shoji Kawahito(Shizuoka Univ.) |
IST2009-50 | 高精細、高速イメージセンサ技術とUDTVビデオセンサ 高柳 功・大澤慎治・Timony Bales・河村克之・吉村憲雄・木村桂一・杉原浩之・Eduard Pages・Anders Andersson・松尾慎一郎・小山琢士・Munir Haque・本多秀成・川口哲司・正田昌宏・B. Almond・P. Par・S. Desumvila・D. Wilcox・Y. Mo・J. Gleason・T. Chow・中村淳一(アプティナ) |
IST2009-51 | 高速カラー撮像IMPACTRONTMCCDラインセンサ 小林 泉・赤羽奈々・溝渕孝一(日本TI),Jaroslav Haynechek(Isetex) |
IST2009-52 | 1/2.3インチ1.55μm pixel 12M画素インターライントランスファー型CCDの開発 武田 健・北野良昭(ソニーセミコンダクタ九州),宮澤信二(ソニー),山根淳二(ソニーセミコンダクタ九州),鈴木啓太(ソニー),引地邦彦・田井香織・原園紘太郎(ソニーセミコンダクタ九州),沼口将吾(ソニーLSIデザイン),内田好則(ソニー),木村匡雄(ソニーLSIデザイン),佐藤 充(ソニーセミコンダクタ九州),神戸秀夫(ソニー),國分勝則(ソニーセミコンダクタ九州) |