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講演抄録/キーワード
講演名 2017-09-25 14:10
時間周波数解析と高時間分解CMOSイメージセンサを組み合わせたTOF距離画像計測
香川景一郎宮城亮太村上裕太安富啓太静大)・長原 一阪大)・ソ ミンウン川人祥二静大
抄録 (和) (まだ登録されていません) 
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文献情報 映情学技報, vol. 41, no. 32, IST2017-55, pp. 27-30, 2017年9月.
資料番号 IST2017-55 
発行日 2017-09-18 (IST) 
ISSN Print edition: ISSN 1342-6893  Online edition: ISSN 2424-1970

研究会情報
研究会 IST  
開催期間 2017-09-25 - 2017-09-25 
開催地(和) 機械振興会館 
開催地(英) Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. 
テーマ(和) イメージセンサおよび一般、2017 IISWとVLSIシンポジウムからの発表報告 
テーマ(英) Image Sensor , etc. 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 IST 
会議コード 2017-09-IST 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 時間周波数解析と高時間分解CMOSイメージセンサを組み合わせたTOF距離画像計測 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Time-of-flight depth map acquisition with temporal frequency analysis and ultra-high-speed charge modulation CMOS image sensor 
サブタイトル(英)  
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第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 香川 景一郎 / Keiichiro Kagawa / カガワ ケイイチロウ
第1著者 所属(和/英) 静岡大学 電子工学研究所 (略称: 静大)
Research Institute of Electronics, Shizuoka University (略称: Shizuoka Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 宮城 亮太 / Ryota Miyagi / ミヤギ リョウタ
第2著者 所属(和/英) 静岡大学 総合科学技術研究科 (略称: 静大)
Graduate School of Integrated Science and Technology, Shizuoka University (略称: Shizuoka Univ.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 村上 裕太 / Yuta Murakami / ムラカミ ユウタ
第3著者 所属(和/英) 静岡大学 総合科学技術研究科 (略称: 静大)
Graduate School of Integrated Science and Technology, Shizuoka University (略称: Shizuoka Univ.)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 安富 啓太 / Keita Yasutomi / ヤストミ ケイタ
第4著者 所属(和/英) 静岡大学 電子工学研究所 (略称: 静大)
Research Institute of Electronics, Shizuoka University (略称: Shizuoka Univ.)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 長原 一 / Hajime Nagahara / ナガハラ ハジメ
第5著者 所属(和/英) 大阪大学 データビリティフロンティア機構 (略称: 阪大)
Institute for Datability Science, Osaka University (略称: Osaka Univ.)
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) ソ ミンウン / Min-Woong Seo / ソ ミンウン
第6著者 所属(和/英) 静岡大学 電子工学研究所 (略称: 静大)
Research Institute of Electronics, Shizuoka University (略称: Shizuoka Univ.)
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) 川人 祥二 / Shoji Kawahito / カワヒト ショウジ
第7著者 所属(和/英) 静岡大学 電子工学研究所 (略称: 静大)
Research Institute of Electronics, Shizuoka University (略称: Shizuoka Univ.)
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講演者
発表日時 2017-09-25 14:10:00 
発表時間 30 
申込先研究会 IST 
資料番号 ITE-IST2017-55 
巻番号(vol) ITE-41 
号番号(no) no.32 
ページ範囲 pp.27-30 
ページ数 ITE-4 
発行日 ITE-IST-2017-09-18 


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