9月28日(月) 午後 13:00 - 16:45 |
(1) |
13:00-13:30 |
CMOSセンサにおけるトランスファゲート負バイアス印加時の暗電流解析 |
○山下浩史・前田基宏・古屋晶吾・矢神貴規(東芝) |
(2) |
13:30-14:00 |
CMOSイメージセンサの暗電流に対する負電圧駆動および光ストレスの効果 |
○渡辺恭志・朴 鍾皓・青山 聡・磯部圭吾(ブルックマンテクノロジ)・川人祥二(静岡大) |
(3) |
14:00-14:30 |
CMOSイメージセンサの画素サイズ縮小と特性比較 |
Gennady Agranov・Rick Mauritzson・John Ladd・Alexandre Dokoutchaev・Xiaofeng Fan・Xiangli Li・Zhiping Yin・Richard Johnson・ビクター レンチェンコフ・Satyadev Nagaraja・William Gazeley・Jingyi Bai・Hong-Wei Lee・○瀧澤義順(アプティナ) |
(4) |
14:30-15:00 |
Noise Reduction Effects of Column-Parallel Multiple Sampling Circuits |
○Sungho Suh・Shinya Itoh・Tetsuya Iida・Shoji Kawahito(Shizuoka Univ.) |
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15:00-15:15 |
休憩 ( 15分 ) |
(5) |
15:15-15:45 |
高精細、高速イメージセンサ技術とUDTVビデオセンサ |
○高柳 功・中村淳一・大澤慎治・Timony Bales・河村克之・吉村憲雄・木村桂一・杉原浩之・Eduard Pages・Anders Andersson・松尾慎一郎・小山琢士・Munir Haque・本多秀成(アプティナ) |
(6) |
15:45-16:15 |
高速カラー撮像インパクトロンCCDラインセンサ |
小林 泉・○赤羽奈々・溝渕孝一(日本TI)・Jaroslav Hynecek(Isetex) |
(7) |
16:15-16:45 |
High-saturation output 1.55-um-square pixel IT-CCD with metal wiring line structure |
○Takeshi Takeda・Yoshiaki Kitano(Sony Semiconductor Kyushu)・Shinji Miyazawa(Sony)・Junji Yamane(Sony Semiconductor Kyushu)・keita suzuki(Sony)・kunihiko hikichi・Kaori Tai・Kotaro Harazono(Sony Semiconductor Kyushu)・Shogo Numaguti(Sony LSI designed)・yoshinori uchida(Sony)・Masao Kimura(Sony LSI designed)・Mitsuru Sato(Sony Semiconductor Kyushu)・Hideo Kanbe(Sony)・Kokubun katsunori(Sony Semiconductor Kyushu) |