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掲載 予定 | 題 目 | 発表社 | 情報源 | キーポイント | 分類 番号 |
2011年 4月号 | 低電力で磁場を制御可能な現象を常温でも発見 | 東大 JST 物材機構 理化学研 | 日経産業新聞 (2011年1月4日PP.10) | 鉄合金内にnmの磁気の渦巻き スキルミオン結晶 磁気メモリーの低電力化 2℃で確認 | 120 230 |
2011年 4月号 | 光子1個で変色する材料 | 奈良先端大 | 日刊工業新聞 (2011年1月10日PP.11) 日経産業新聞 (2011年1月12日PP.7) | チアゾリルベンゾチオフェン 光子1個で分子1個が反応 反応効率98% 光センサや記録材料向け フォトクロミック分子 | 130 |
2011年 4月号 | 熱電材料の原子レベル振動観察技術 | 東北大 広島大 | 日経産業新聞 (2011年1月11日PP.9) 日刊工業新聞 (2011年1月11日PP.16) | Ga-Snのかご形材料 かご内のBa原子が振動 テラヘルツ波の共鳴で観察 | 250 660 |
2011年 4月号 | 実用的な小型SHVプロジェクタ | NHK NHK-ES JVCケンウッド | 電波新聞 (2011年1月17日PP.2) 電波タイムズ (2011年1月26日PP.3) | e-shiftデバイス 800万画素の表示素子を3枚使用 | 350 |
2011年 4月号 | 電子対の量子もつれをナノテクで定量測定 | 物材機構 | 日刊工業新聞 (2011年1月20日PP.24) | 量子テレポーテーション 2つの超電導体の先端に2本のナノワイヤをつないだデバイスを作製 | 120 |
2011年 4月号 | Si半導体中の量子もつれを生成・検出 | 慶応大 英オックスフォード大 | 日刊工業新聞 (2011年1月20日PP.24) 日経産業新聞 (2011年1月24日PP.11) | エンタングルメント リン原子核のスピンとそこに捉えられている電子のスピンをそれぞれ量子ビットとする Si原子1個で演算処理 温度20K | 120 |
2011年 4月号 | アナログ停波は予定通り実施 | 総務省 | 日経産業新聞 (2011年1月24日PP.3) | 難視聴地区 14000地区の28万世帯 | 540 640 |
2011年 4月号 | 近・遠距離で3D生中継 | Bi2-Vision | 日経産業新聞 (2011年1月24日PP.11) | 2台のカメラの角度 ズームを自動調整 200m先の立体像を撮影 | 410 420 |
2011年 4月号 | テラヘルツ波磁場パルスを使ってスピンを高速制御 | 東大 | 日刊工業新聞 (2011年1月25日) | イットリウムオルソフェライトを試料 パルス幅0.3ps スピントロニクス素子 | 120 660 |
2011年 4月号 | 200インチの裸眼立体表示技術 | 情通機構 JVCケンウッド | 電波新聞 (2011年1月26日PP.2) 日経産業新聞 (2011年1月26日PP.9) | 50以上の視点数 輝度分布や色バランス調整機能を持つプロジェクタ 拡散フィルムと集光レンズをスクリーンに使用 プロジェクタ64台利用 高さ2.5m×幅4.5m 57種の異なる映像を投影して立太子 | 350 450 |
2011年 4月号 | 半導体材料を紫外線で研磨する技術 | 熊本大 | 日経産業新聞 (2011年1月26日PP.9) | 紫外線を照射して表面を酸化 酸化した部分を研磨 SiCやGaNなどの硬い素材に適用可能 | 260 |
2011年 4月号 | 薄型テレビの動画性能を定量的に評価 | APDC | 日刊工業新聞 (2011年1月27日PP.8) | IECで標準化をめざす 信号発生機でテレビに送り込んだパターンをカメラで読み取り測定 | 550 660 350 |
2011年 4月号 | 高温超電導を利用した安価な微弱磁気センサ | 国際超電導産業技術研究センター(ISTEC) | 日経産業新聞 (2011年1月28日PP.10) | 超電導量子干渉素子(SQUID)センサ 77Kの液体窒素で冷却 10fTを検出可能 | 210 120 |
2011年 4月号 | レアメタルを使わないReRAMの集積化技術 | 物材機構 | 日刊工業新聞 (2011年1月28日PP.30) | アルミニウム系材料のみで作製 フォトリソグラフィ デバイス構造はクロスバー方式 5〜100μm角で容量256ビット | 230 160 |
2011年 4月号 | 3D映像の立体効果判定 | リーダー電子 | 日経産業新聞 (2011年1月28日PP.14) | 3D映像の飛び出し量や引っ込み量を数値化 左右の画像の視差を分析 3D酔いのリスクを判定 | 620 660 |