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講演抄録/キーワード
講演名 2016-08-09 09:30
偏心ピンホールを用いた距離計測
大津悠暉九工大
抄録 (和) 現在,距離計測のという分野では様々な手法が研究されている.その中の一つに画像情報を用いる手法がある.画像情報を用いた距離計測法のメリットは,他の手法と比べ,特殊な装置が必要ではないため,比較的容易に扱える点である.また,人間が一目で何のデータなのかを容易に判断できる点もある.デメリットとしては,他の手法と比べて精度と速度が少し劣る点である.画像情報を用いた距離計測法は,大まかに,多眼単視点法と単眼多視点法と単眼単視点法の三つに分類できる.本研究では,偏心ピンホールを用いた距離計測法を提案する.今回提案する方法は,単眼単視点の撮影でありながら,多眼単視点法,単眼多視点法のように複数枚の画像を撮影し,距離計測を行う.将来的に,偏心ピンホールを変更する操作が自動化されれば,単眼単視点法の撮影の容易さと,多眼単視点法,単眼多視点法の精度を持ち合わせた新しい手法になる. 
(英) There are various methods of distance measurement. Method using image information is one of them. The advantage of image based method is that it can be handled relatively easily because there is no need for an extra special device as compared to other methods. It also obtains merits that people can determine what object exists in the image, and furthermore, the measurement can be performed after the picture was taken. The disadvantage is the little inferior of accuracy and speed when compared to other methods.
Distance measurement using the image information can be broadly classified into a stereo method and multi-view method and monocular single viewpoint method. In this study, a new distance measurement method using the symmetrical designed multi eccentric pin holes mask is proposed. Proposed method puts the mask into the imaging path of a normal single focus camera. It takes the ease of shooting like the monocular single viewpoint method, and obtains the measurement accuracy as same level as stereo method and multi-view method.
キーワード (和) 偏心ピンホール / 距離計測 / / / / / /  
(英) / / / / / / /  
文献情報 映情学技報
資料番号  
発行日  
ISSN Print edition: ISSN 1342-6893  Online edition: ISSN 2424-1970
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研究会情報
研究会 ME CE IPSJ-AVM IEICE-IE  
開催期間 2016-08-08 - 2016-08-09 
開催地(和) 九州工業大学 戸畑キャンパス 
開催地(英)  
テーマ(和) マルチメディア情報処理・配信・検索・インタフェースとその応用,およびコンシューマエレクトロニクス,メディアエレクトロニクス,画像工学,一般 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 IEICE-IE 
会議コード 2016-08-IE-ME-AVM-CE 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 偏心ピンホールを用いた距離計測 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Distance measurement using an eccentric pin hole 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 偏心ピンホール /  
キーワード(2)(和/英) 距離計測 /  
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第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 大津 悠暉 / Yuki Otsu / オオツ ユウキ
第1著者 所属(和/英) 九州工業大学 (略称: 九工大)
Kyushu Institute of Technology (略称: KIT)
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講演者
発表日時 2016-08-09 09:30:00 
発表時間 30 
申込先研究会 IEICE-IE 
資料番号  
巻番号(vol) ITE-40 
号番号(no)  
ページ範囲  
ページ数 ITE- 
発行日  


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