9月27日(月) 午後 13:00 - 17:00 |
(1) |
13:00-13:45 |
[記念講演]特別企画「CCD誕生40周年記念講演-黎明期-」 |
○越智成之 |
(2) |
13:45-14:30 |
[招待講演]マルチコア利用技術 ~ ドメイン分離とユーザ利用状況に応じたリソース配分 ~ |
○枝廣正人(NEC) |
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14:30-14:45 |
休憩 ( 15分 ) |
(3) |
14:45-15:30 |
[記念講演][CCD誕生40周年記念講演] イメージセンサの世界における日本 ~ 日本が果たしてきた役割と歴史から学ぶこと ~ |
○黒田隆男(パナソニック) |
(4) |
15:30-16:00 |
微細CMOSの多層配線における光学特性の評価 |
○池田 誠(東大) |
(5) |
16:00-16:30 |
65nm CMOSプロセスを用いた偏光計測イメージセンサの性能向上 |
○宍戸三四郎・野田俊彦・笹川清隆・徳田 崇・太田 淳(奈良先端大) |
(6) |
16:30-17:00 |
RTN測定の高精度・高速化技術とRTN特性に強い影響度を示すプロセス条件 |
○阿部健一・寺本章伸・須川成利・大見忠弘(東北大) |