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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
IST 2010-09-27
16:30
東京 機械振興会館 RTN測定の高精度・高速化技術とRTN特性に強い影響度を示すプロセス条件
阿部健一寺本章伸須川成利大見忠弘東北大
先進CMOSイメージセンサにおける課題のひとつとなっているRandom Telegraph Noise(RTN)について... [more] IST2010-47
pp.29-32
IST 2009-07-24
13:25
東京 機械振興会館 CMOSイメージセンサの画素トランジスタのノイズ測定
山岸世明小原崇弘藤澤孝文阿部健一・○須川成利東北大
CMOSイメージセンサの画素ソースフォロアトランジスタについて,ゲートポリシリコンのコンタクトが素子分離領域上にあるトラ... [more] IST2009-37
pp.5-8
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