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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
IST 2021-03-26
09:25
東京 オンライン開催 プラズマプロセスにより形成される3次元欠陥分布が暗電流特性に及ぼす影響評価
佐藤好弘山田隆善西村佳壽子山崎雅之村上雅史パナソニック)・占部継一郎江利口浩二京大
半導体集積回路の製造工程にはプラズマプロセスが広く用いられている.プラズマ処理中には入射イオンによるダメージにより被加工... [more] IST2021-9
pp.5-8
IST 2020-03-27
14:20
東京 機械振興会館 地下2階ホール
(開催延期)
5V駆動84%高量子効率15pA/cm2低暗電流3元型有機材料を積層した1/2.3インチ20M有機CMOSイメージセンサ
高橋秀和妹尾章弘鎌谷 淳郷田達人石毛剛一貴志悦郎山田直樹大類博輝岩脇洋伸高谷 格西出洋祐宮下広和高橋哲生山口智奈塩原 悟市川武史キヤノン
5Vバイアスで高量子効率84% (λ=575nm) と低暗電流15pA/cm2@20℃の優れた特性を有する光電変換用の3... [more] IST2020-18
pp.47-50
IST 2014-09-29
14:00
東京 機械振興会館 湾曲CMOSイメージセンサ
江崎孝之糸長総一郎ソニー)・有村季幸松本圭司ソニー大分)・近藤悟郎ソニー熊本)・寺畑和秀牧元晋作馬場雅和本田耕功母里正剛甲斐 亮笠原恵樹ソニー大分)・長野光浩木村真幸木下欣紀ソニー熊本
平面型のBISに対して,イメージサークルの中心で感度2倍,端で感度1.4倍,5分の1の低暗電流(Jd)を実現する,半球状... [more] IST2014-41
pp.1-4
IST 2014-03-14
16:40
東京 NHK放送技術研究所 Low Noise Multi-aperture camera by Selective Averaging
Bo ZhangKeiichiro KagawaTaishi TakasawaMin-Woong SeoKeita YasutomiShoji KawahitoShizuoka Univ.
 [more] IST2014-16
pp.31-34
IST, CE
(共催)
2012-03-30 東京 機械振興会館 低Noise/高飽和電荷量CMOS Image Sensorの開発
糸長総一郎水田恭平片岡豊隆池田晴美柳田将志石渡弘明田中裕介若野寿史的場義久大石哲也山本 亮荒川伸一小町 潤勝俣幹生渡邉慎也ソニー
PD領域のSi基板をエッチングしない画素専用素子分離(FLAT isolation)と専用トランジスタ(FLAT tra... [more]
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