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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
IST 2021-10-21
10:50
ONLINE オンライン開催 大判12µm画素と高解像度2.8µm画素の高精度近接容量CMOSイメージセンサ
須釜侑希渡部吉祥黒田理人山本将大後藤哲也東北大)・安田俊朗村上真一羽森 寛オー・エイチ・ティー)・栗山尚也ラピスセミコンダクタ)・須川成利東北大
本稿では,新たに開発した2つの高精度近接容量CMOS イメージセンサ,12 µmピッチ画素で1.68 $cm^2$の撮像... [more] IST2021-51
pp.13-16
IST 2019-03-22
15:35
東京 機械振興会館 0.1aFの検出精度を有するCMOS近接容量イメージセンサ
山本将大黒田理人鈴木 学後藤哲也東北大)・羽森 寛村上真一安田俊朗横道やよいOHT Inc.)・○須川成利東北大
 [more] IST2019-21
pp.49-54
IDY 2013-03-15
13:05
東京 機械振興会館 [招待講演]フェーズドアレイシステムを用いた高精細フラットパネル配線の非接触検査手法
羽森 寛OHT)・片桐英樹広島大)・加藤浩介広島工大
フラットパネルの画質は近年飛躍的な進歩を遂げ、4k、8kといった超高精細モデルも現実的なものとなりつつある.一方で、それ... [more] IDY2013-16
pp.1-6
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