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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
IEICE-ICD, IEICE-SDM
(共催)
IST
(連催) [詳細]		 2023-08-02
09:00		 北海道 北海道大学
（ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催）		 ［招待講演］A 33kDMIPS 6.4W Vehicle Communication Gateway Processor Achieving 10Gbps/W Network Routing, 40ms CAN Bus Start-Up and 1.4mW Standby Power
○Kenichi Shimada・Keiichiro Sano・Kazuki Fukuoka・Hiroshi Morita・Masayuki Daito・Tatsuya Kamei・Hiroyuki Hamasaki・Yasuhisa Shimazaki（Renesas） 		 [more]
IEICE-SDM, IEICE-ICD
(共催)
IST
(連催) [詳細]		 2021-08-18
13:00		 ONLINE オンライン開催 ［招待講演］タスク分離型制御のASIL D向け機能安全と60.4TOPS、13.8TOPS/WのCNNアクセラレータを備える12nm自動運転プロセッサ
○松原勝重・Lieske Hanno（ルネサス エレクトロニクス）・木村　基（Renesas Electronics Europe）・中村　淳・小池　学・寺島和昭・森川　俊・堀田義彦・入田隆宏・望月誠二・浜崎博幸・亀井達也（ルネサス エレクトロニクス） 		 [more]
IST 2019-09-20
14:15		 東京 機械振興会館 ピラミッド型回折装置を備えた裏面照射型CMOS撮像画素における近赤外線の像面位相差検出
○國清辰也・後藤洋太郎・高橋史年・佐藤英則・神野　健・飯塚康治・園田賢一郎・山下朋弘（ルネサスエレクトロニクス） 		 [more] IST2019-49
pp.25-28
IEICE-SDM, IEICE-ICD
(共催)
IST
(連催) [詳細]		 2019-08-07
16:30		 北海道 北海道大学 情報科学院 3F A31 ［招待講演］28nmスプリットゲートMONOS型フラッシュメモリを用いた高温動作かつ低エラー率を実現するPUF技術
○下井貴裕・斉藤朋也・長瀬寛和・伊豆名雅之・神田明彦・伊藤　孝・河野隆司（ルネサス エレクトロニクス） 		 [more]
IEICE-SDM, IEICE-ICD
(共催)
IST
(連催) [詳細]		 2019-08-09
10:50		 北海道 北海道大学 情報科学院 3F A31 ［招待講演］ISO26262 ASIL-Dをサポートする、次世代自動車アーキテクチャ向けに仮想化支援プロセッサを内蔵した28nm・600MHz車載フラッシュマイクロコントローラ
○奥村直人・大谷寿賀子・大槻典正・鈴木康文・前田昇平・柳田智則・小池貴夫・伊藤正雄・上村　稔・島崎靖久・服部俊洋・阪本憲成・近藤弘郁（ルネサス エレクトロニクス） 		 [more]
IST, IEICE-ICD, IEICE-SDM
(連催) ※学会内は併催		 2018-08-09
12:45		 北海道 北海道大学 M棟M151 10nm FinFETプロセスにおける回復効果を含むBTIのスタンダードセルのレイアウト形状依存性に関する研究
○五十嵐満彦・内田優希・高沢義生・塚本康正・澁谷宏治・新居浩二（ルネサスエレクトロニクス） 		 [more]
IST, IEICE-ICD, IEICE-SDM
(連催) ※学会内は併催		 2018-08-09
13:10		 北海道 北海道大学 M棟M151 12nm FinFETプロセスを用いた3G search/s 高速デュアルポートTCAMの開発
○藪内　誠・森本薫夫・新居浩二・田中信二（ルネサス） 		 [more]
IEICE-SDM, IEICE-ICD
(共催)
IST
(連催) [詳細]		 2017-07-31
10:40		 北海道 北海道大学情報教育館 SOTBプロセスによるIoT向け低消費電力混載SRAMの開発
○藪内　誠・新居浩二（ルネサス）・篠崎義弘（NSW）・山本芳樹・長谷川拓実・新川田裕樹・蒲原史朗（ルネサス） 		 [more]
IST 2016-09-26
16:20		 東京 機械振興会館 CMOSイメージセンサーに対応した画素領域のコンタクト直下に形成したカーボン複合体欠陥での超近接ゲッタリング技術によるホワイトスポットの低減
○山口　直・山下朋弘（ルネサス）・神野　健・後藤洋太郎・黒井　隆（RSMC）・松浦正純（ルネサス） 		 [more] IST2016-47
pp.23-26
IST 2015-09-18
15:40		 東京 機械振興会館 高性能イメージセンサへのマイクロ波アニールによるイオン注入損傷回復
○木村雅俊（ルネサスセミコンダクタマニュファクチュアリング）・山口　直（ルネサスエレクトロニクス）・黒井　隆（ルネサスセミコンダクタマニュファクチュアリング） 		 [more] IST2015-54
pp.45-48
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