お知らせ ◆映像情報メディア学会における研究会の開催について (新型コロナウイルス関連)2021年7月21日更新
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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
IST 2018-03-09
12:00
東京 NHK 放送技術研究所講堂 [招待講演]画素/DRAM/Logic 3層積層CMOSイメージセンサ技術
津川英信高橋 洋中邑良一梅林 拓荻田知治岡野仁志岩瀬和也川島寛之山崎孝次米山大輔橋爪 淳中島 務村田顕一金石芳和池田健児田谷圭司中山 創春田 勉野本哲夫ソニー
 [more] IST2018-17
pp.25-29
IST 2017-03-10
13:20
東京 NHK放送技術研究所講堂 A 1/2.3in 20Mpixel 3-Layer Stacked CMOS Image Sensor with DRAM
春田 勉・○中島 務橋爪 淳梅林 拓高橋 洋谷口一雄黒田真実住広 博榎 弘二ソニーセミコンダクタソリューションズ)・山崎孝次ソニーセミコンダクタマニュファクチャリング)・池澤勝也北原 淳全 真生大山将史古賀洋貴ソニーセミコンダクタソリューションズ
 [more] IST2017-13
pp.19-22
BCT, IEE-CMN
(連催)
IEICE-OFT, IEICE-OCS
(併催) [詳細]
2016-11-11
13:10
長崎 長崎商工会議所 (長崎市) 周波数掃引パルスによるブリルアン散乱を利用した動的歪測定
鬼頭千尋高橋 央戸毛邦弘真鍋哲也NTT
 [more]
IEICE-OFT, IEICE-OCS
(連催)
BCT, IEE-CMN
(連催) [詳細]
2015-11-13
13:25
愛媛 松山市民会館 線形周波数掃引ポンプパルスによる分岐下部試験技術
高橋 央鬼頭千尋戸毛邦弘真鍋哲也NTT
(事前公開アブストラクト) PONの分岐下部ファイバの損失分布試験可能な方法として、遠端反射ブリルアン測定法を提案してい... [more]
IEICE-OCS, IEICE-OFT
(共催)
BCT, IEE-CMN
(連催) [詳細]
2014-11-13
15:40
広島 NHK広島放送局 断線故障モニタリングに対する遠端反射ブリルアン解析法の適用性
鬼頭千尋高橋 央戸毛邦弘真鍋哲也NTT)・伊藤文彦島根大
 [more]
IST 2014-03-14
11:30
東京 NHK放送技術研究所 3次元積層型CMOSイメージセンサ
梅林 拓・○荻田知治助川俊一中島 務河野邉 宏ソニー)・小関 賢ソニーエルエスアイデザイン)・春田 勉高橋 洋ソニー)・井上啓司ソニーセミコンダクタ)・若野寿史馬田祐輔福元康司永野隆史新田嘉一平山照峰ソニー
裏面照射型イメージセンサの支持基板の代わりにロジック基板をThrough Silicon Via (TSV) で3次元積... [more] IST2014-9
p.5
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