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研究会
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開催地
タイトル・著者
抄録
資料番号
IEICE-SDM
,
IEICE-ICD
(共催)
IST
(連催)
[詳細]
2019-08-08
10:00
北海道
北海道大学 情報科学院 3F A31
極値理論を利用した最大SRAMデータ保持電圧の統計解析
○
水谷朋子
・
竹内 潔
・
更屋拓哉
・
小林正治
・
平本俊郎
（
東大
）
[more]
IST
,
IEICE-ICD
,
IEICE-SDM
(連催)
※学会内は併催
2018-08-08
09:45
北海道
北海道大学 M棟M151
Understanding Temperature Effect on Subthreshold Slope Variability in Bulk and SOTB MOSFETs
○
Shuang Gao
・
Tomoko Mizutani
・
Kiyoshi Takeuchi
・
Masaharu Kobayashi
・
Toshiro Hiramoto
（
Univ. Tokyo
）
[more]
IST
,
IEICE-ICD
,
IEICE-SDM
(連催)
※学会内は併催
2018-08-09
13:45
北海道
北海道大学 M棟M151
SRAMの安定性自己修復手法における複数回ストレス印加の効果
○
水谷朋子
・
竹内 潔
・
更屋拓哉
・
小林正治
・
平本俊郎
（
東大
）
[more]
IEICE-SDM
,
IEICE-ICD
(共催)
IST
(連催)
[詳細]
2017-08-01
09:45
北海道
北海道大学情報教育館
不揮発情報一括書き込み・読み出し可能な初期値確定SRAM
○
水谷朋子
・
竹内 潔
・
更屋拓哉
（
東大
）・
篠原尋史
（
早大
）・
小林正治
・
平本俊郎
（
東大
）
[more]
IEICE-ICD
,
IEICE-SDM
(共催)
IST
(連催)
[詳細]
2016-08-03
15:05
大阪
中央電気倶楽部
線幅2nmの超微細シリコンナノワイヤトランジスタにおけるDIBLばらつきおよびデバイス内ばらつき
○
水谷朋子
・
竹内 潔
・
鈴木龍太
・
更屋拓哉
・
小林正治
・
平本俊郎
（
東大
）
超微細シリコンナノワイヤトランジスタにおけるDIBLばらつきを測定し，統計解析を行った．線幅が2nmまで減少すると，DI...
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