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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
IST 2017-09-25
15:25
東京 機械振興会館 (東京都) Region Control Oriented Stacked CMOS Image Sensor with Array-Parallel ADC Architecture
Takahito YamauchiTomohiro TakahashiSony Semiconductor Solutions)・Yuichi KajiSony Electronics Incorporated)・Yasunori TsukudaShinichiro FutamiSony Semiconductor Solutions)・Katsuhiko HanzawaPing Wah WongFrederick BradyPhil HoldenThomas AyersSony Electronics Incorporated)・Kyohei MizutaSusumu OhkiKeiji TataniTakashi NaganoSony Semiconductor Solutions)・Hayato WakabayashiSony Electronics Incorporated)・Yoshikazu Nittaony Semiconductor Solutions
領域制御のアプリケーションに向けて410万画素, 280fpsのアレイ並列アーキテクチャに基づく積層型CMOSイメージセ... [more] IST2017-57
pp.35-38
IST, CE
(共催)
2012-03-30 東京 機械振興会館 (東京都) 低Noise/高飽和電荷量CMOS Image Sensorの開発
糸長総一郎水田恭平片岡豊隆池田晴美柳田将志石渡弘明田中裕介若野寿史的場義久大石哲也山本 亮荒川伸一小町 潤勝俣幹生渡邉慎也ソニー
PD領域のSi基板をエッチングしない画素専用素子分離(FLAT isolation)と専用トランジスタ(FLAT tra... [more]
IST, CE
(共催)
2010-03-26
16:10
東京 機械振興会館 (東京都) 0.9um Pitch Pixle CMOSイメージセンサ設計手法
糸長総一郎水田恭平片岡豊隆柳田将志山内真太郎池田晴美春田 勉松本静徳原沢正規松田 健松本 晃水野生枝亀嶋隆季杉浦 巌平山照峰ソニー
我々は、画素ピッチ縮小に伴い顕在化する光回折ロスを一定に保つ定光回折スケーリング画素設計手法を考案した。
遮光メタル... [more]
IST2010-20 CE2010-29
pp.55-58
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