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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
IST 2021-10-21
10:50
ONLINE オンライン開催 大判12µm画素と高解像度2.8µm画素の高精度近接容量CMOSイメージセンサ
須釜侑希渡部吉祥黒田理人山本将大後藤哲也東北大)・安田俊朗村上真一羽森 寛オー・エイチ・ティー)・栗山尚也ラピスセミコンダクタ)・須川成利東北大
本稿では,新たに開発した2つの高精度近接容量CMOS イメージセンサ,12 µmピッチ画素で1.68 $cm^2$の撮像... [more] IST2021-51
pp.13-16
IST 2021-10-21
11:10
ONLINE オンライン開催 流体濃度分布その場計測へ向けた1000fps高SNRグローバルシャッタCMOSイメージセンサ
及川 哲黒田理人髙橋圭吾東北大)・志波良信東北大/フジキン)・藤原康行四家寛也村田真麻郭 家祺イアンギリカルド シパウバ カルバリオ ダ シルバ後藤哲也諏訪智之森本達郎白井泰雪東北大)・永瀬正明池田信一フジキン)・須川成利東北大
 [more] IST2021-52
pp.17-20
IEICE-SDM, IEICE-ICD
(共催)
IST
(連催) [詳細]
2021-08-17
09:30
ONLINE オンライン開催 [招待講演]サブaFの精度を有する高解像度・リアルタイム近接容量CMOSイメージセンサの開発
黒田理人須釜侑希渡部吉祥後藤哲也須川成利東北大
 [more] IST2021-41
pp.1-4
IST 2019-03-22
15:35
東京 機械振興会館 0.1aFの検出精度を有するCMOS近接容量イメージセンサ
山本将大黒田理人鈴木 学後藤哲也東北大)・羽森 寛村上真一安田俊朗横道やよいOHT Inc.)・○須川成利東北大
 [more] IST2019-21
pp.49-54
IST 2015-05-08
15:00
東京 東京理科大学 森戸記念館 ゲート絶縁膜/Si界面の原子オーダー平坦化によるランダムテレグラフノイズ低減効果
黒田理人小原俊樹後藤哲也赤川直也木本大幾寺本章伸須川成利東北大
 [more] IST2015-33
pp.35-38
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