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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
IST 2025-09-18
13:50
東京 機械振興会館 Charge domain type 2.2um BSI Global Shutter pixel with Dual Depth DTI Produced by thick-film epitaxial process
Toshifumi YokoyamaYoshihiro NoguchiYoshiaki NishiMasafumi TsutsuiMasahiko TakeuchiMasahiro OdaTPSCo)・Fenigstein AmosTower
チャージドメイン方式の2.2um裏面照射型(BSI)グローバルシャッター(GS)画素を開発し、低い寄生光感度(PLS)を... [more] IST2025-40
pp.17-20
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