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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
MMS, AIT, HI, ME
(共催)
IEICE-ITS, IEICE-IE
(共催)
CE
(共催)
(連催) ※学会内は併催 [詳細]
2017-02-21
09:00
北海道 北大情報科学研究科 深層特徴の比較評価 ~ 分類器学習 vs. 距離計量学習 ~
堀口翔太伊神大貴相澤清晴東大
有用な深層特徴を得ることは画像に関わる全ての課題において重要である.分類器の中間層から抽出した特徴量が有用であることが知... [more] MMS2017-35 CE2017-35 HI2017-35 ME2017-59 AIT2017-35
pp.199-204
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