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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
IST 2021-03-26
09:25
東京 オンライン開催 プラズマプロセスにより形成される3次元欠陥分布が暗電流特性に及ぼす影響評価
佐藤好弘山田隆善西村佳壽子山崎雅之村上雅史パナソニック)・占部継一郎江利口浩二京大
半導体集積回路の製造工程にはプラズマプロセスが広く用いられている.プラズマ処理中には入射イオンによるダメージにより被加工... [more] IST2021-9
pp.5-8
BCT, KYUSHU, IEEE-BT, IEEE-AP-S-FUKUOKA
(共催)
2020-01-23
14:30
鹿児島 宝山ホール(鹿児島市山下町5-3) 長方形DGSを装荷した平面型低損失Magic-Tの設計
中原弘貴田中高行豊田一彦佐賀大
本稿では,接地導体を意図して構造的に削除する技術であるDGS(Defected Ground Structure)を用い... [more] BCT2020-5
pp.17-20
IST, CE
(共催)
2012-03-30 東京 機械振興会館 低Noise/高飽和電荷量CMOS Image Sensorの開発
糸長総一郎水田恭平片岡豊隆池田晴美柳田将志石渡弘明田中裕介若野寿史的場義久大石哲也山本 亮荒川伸一小町 潤勝俣幹生渡邉慎也ソニー
PD領域のSi基板をエッチングしない画素専用素子分離(FLAT isolation)と専用トランジスタ(FLAT tra... [more]
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