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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
IEICE-ICD, IEICE-SDM
(共催)
IST
(連催) [詳細]
2022-08-09
14:00
ONLINE オンライン開催 近接容量センサを用いた高精度微小容量差計測
渡部吉祥須釜侑希志波良信黒田理人白井泰雪須川成利東北大
微小容量差計測のための近接容量センサを 0.18 μm CMOSテクノロジを用いて設計・試作した.設計・試作したセンサの... [more] IST2022-31
pp.71-76
IST 2021-10-21
10:50
ONLINE オンライン開催 大判12µm画素と高解像度2.8µm画素の高精度近接容量CMOSイメージセンサ
須釜侑希渡部吉祥黒田理人山本将大後藤哲也東北大)・安田俊朗村上真一羽森 寛オー・エイチ・ティー)・栗山尚也ラピスセミコンダクタ)・須川成利東北大
本稿では,新たに開発した2つの高精度近接容量CMOS イメージセンサ,12 µmピッチ画素で1.68 $cm^2$の撮像... [more] IST2021-51
pp.13-16
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