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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
IST 2024-03-27
15:30
東京 機械振興会館
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
クラスター化された複数周期クロックによるリチャージ制御と 最上位ビット読み出し動作により 3.36㎛ピッチを実現したSPADフォトンカウントイメージセンサ
高塚挙文小木 純池田泰二比津和樹稲岡 豊坂間俊亮渡邉伊織石川達也島田翔平鈴木淳貴SSS)・前田英訓戸嶋謙二SCK)・野中裕介山村祥史小澤秀樹古閑史彦大池祐輔SSS
本論文はSPAD フォトンカウントイメージセンサの画素回路ピッチ縮小に関して2023 Symposium on VLSI... [more] IST2024-21
pp.42-45
IST 2023-09-15
15:10
東京 機械振興会館
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
A 3.06 μm SPAD Pixel with Embedded Metal Contact and Power Grid on Deep Trench Pixel Isolation for High-resolution Photon-counting
Tatsuya NakataJun OgiFumiaki SanoYoshiki KuboWataru OnishiCharith KoswaththagheTakeya MochizukiYoshiaki TashiroKazuki HizuTakafumi TakatsukaFumihiko KogaTomoyuki HiranoYusuke OikeSSS
This paper presents a 3.06-μm-pitch SPAD pixel with the embe... [more] IST2023-44
pp.37-40
IST 2022-12-12
14:20
静岡 Sanaru Hall [ポスター講演]Light-induced reliability issue of NMOS using in CMOS image sensor and single-photon avalanche diode
Chun-Hsien LiuSheng. Di. LinInstitute of Electronics, NYCU
We present the NMOS reliability issue of increased off-curre... [more] IST2022-52
pp.39-40
IST 2022-03-28
15:40
ONLINE オンライン開催 高いPDEおよびTiming Jitter特性を有する積層型6μmSPAD距離センサー
島田翔平大竹悠介吉田 悟遠藤表徳中邑良一津川英信荻田知治小笠原隆行横地界斗井上裕士高林幸作前田英訓山本浩司大野 誠松本静徳樋山拓己若野寿史ソニー
本稿では、300mm CMOSプラットフォームにて試作された、裏面照射構造を有する高性能な積層型シングルフォトンアバラン... [more] IST2022-20
pp.43-46
IST 2022-03-28
16:10
ONLINE オンライン開催 低照度撮像及び測距用途に向けた320万画素裏面積層電荷収集型SPADイメージセンサ
アブデルガファ愛満森本和浩岩田旬史篠原真人関根 寛土屋宏之黒田享裕戸島研三遠藤 航前橋 雄大田康晴笹子知弥前川晋太郎彦坂慎吾加納大幹加藤愛子手塚智之吉﨑 聡小川俊之上平晃聖江原アリス乾 文洋松野靖司櫻井克仁市川武史キヤノン
読み出しノイズレス、高時間分解能を両立する次世代のフォトンカウンティングイメージセンサを開発した。新たに提案する320万... [more] IST2022-21
pp.47-51
IST 2022-03-28
16:40
ONLINE オンライン開催 画素毎露光期間制御および適応型クロックドリチャージ駆動を用いた0.37W, 143dBダイナミックレンジを有する100万画素裏面照射電荷収集型SPADイメージセンサ
前橋 雄大田康晴森本和浩笹子知弥篠原真人黒田享裕遠藤 航前川晋太郎本山昌尚戸島研三土屋宏之アブデルガファ愛満彦坂慎吾上平晃聖岩田旬史乾 文洋松野靖司櫻井克仁市川武史キヤノン
SPADイメージセンサにおいて高ダイナミックレンジと低消費電力を両立させるために、画素毎露光期間制御を提案し、100万画... [more] IST2022-22
pp.53-56
IST 2021-03-26
12:50
東京 オンライン開催 A Back Illuminated 10μm SPAD Pixel Array Comprising Full Trench Isolation and Cu-Cu Bonding with Over 14% PDE at 940nm
Kyosuke ItoYusuke OtakeYoshiaki KitanoAkira MatsumotoJunpei YamamotoTakayuki OgasaharaHiroki HiyamaRyusei NaitoKohei TakeuchiTakanori TadaKosaku TakabayashiHajime NakayamaKeiji TataniTomoyuki HiranoToshifumi WakanoSONY
本稿では、300mmウエハ CMOS 90nmプロセスで作製した積層型シングルフォトンアバランシェダイオード (SPAD... [more] IST2021-14
pp.25-28
IST 2018-03-09
13:30
東京 NHK 放送技術研究所講堂 半導体フォトンカウンティングデバイスとその応用
中村重幸永野輝昌牧野健二馬場 隆山本晃永浜ホト
半導体フォトンカウンティングデバイスも実用期に入り、適用分野が広がりつつある。弊社のフォトンカウンティングデバイスである... [more] IST2018-18
pp.31-34
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