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掲載 予定 | 題 目 | 発表社 | 情報源 | キーポイント | 分類 番号 |
2016年 4月号 | テラヘルツ波のパワーを常温で高感度に測定 | 産総研 | 日刊工業新聞 (2016年1月19日PP.29) | 熱電変換素子 | 320 |
2013年 8月号 | グラフェンFET電子状態精密測定 | 東大 | 日刊工業新聞 (2013年5月31日PP.31) | 高抵抗領域の形成メカニズムを明らかに 物質の3次元方向の電子・科学状態を解析する走査型光電子顕微鏡 | 320 360 |
2013年 1月号 | スマホを使い電磁波ノイズ測定 | 金沢大 | 日経産業新聞 (2012年10月29日PP.12) | カメラで動画撮影し画面にノイズ分布を表示 電磁界空間分布計測システム 小型センサと市販スマホで構成 センサ基盤は10cm×5cm・84g | 320 |
2012年10月号 | 屋内で位置情報案内可能な歩行支援システム | 情通機構 富士通 | 日刊工業新聞 (2012年7月4日PP.17) | UWBによる測位 2つの移動局と基地局間の距離を誤差30cmの精度で測定 | 320 440 |
2012年 8月号 | 伝導準位を正確に測定する装置 | 京大 | 日刊工業新聞 (2012年5月14日PP.18) | 光検出の分解能は0.3eV以下 誘電多層膜帯域通過フィルタ 光電子増倍管 屈折率の大きく異なる2つの薄膜を100層交互に重ねる 太陽電池等に使われる有機半導体 石英ガラスの光学素子 | 320 410 |
2010年12月号 | 電子のスピンを直接観察 | 東北大 | 日経産業新聞 (2010年9月7日PP.11) | 半球型電子のエネルギー分析器 モット散乱型スピン検出器 1〜50電子Vの間で8m電子Vの分解能で測定 | 320 |
2010年 1月号 | 口臭の画像解析技術
-見えない臭いの可視化- | 東京医科歯科大 | 日経産業新聞 (2009年10月6日PP.11) | 高感度カメラ 特殊なマウスピース 酵素を染み込ませたガーゼ 臭いに含まれる化合物が反応し発光 20〜1200ppmの範囲内でエタノール濃度を測定 | 320 660 |
2010年 1月号 | 光干渉を使ったナノ精度測定 | 埼玉大 東洋精機製作所 | 日経産業新聞 (2009年10月7日PP.11) | 精度1nm以下 光干渉 レーザ光を2つの経路に分けて解析 20cm2 | 320 660 |
2009年 1月号 | 原子レベルの物体の位置を測定可能な小型センサ | 日立 | 日経産業新聞 (2008年10月27日PP.11) | 40pmの測定精度 縦5cm・横2cm・高さ1.4cmの箱型センサ レーザ光 フォトニック結晶 | 210 320 660 |
2007年 1月号 | 世界最短の光学現象測定 | 理研 東大 | 日刊工業新聞 (2006年10月18日PP.29) | 極端紫外線レーザ光 2光子クーロン爆発 320アト秒幅のパルス光が1000兆分の1.33秒毎に連なった構成を確認 非線形光学現象 規則正しい波の構造 | 250 660 |
2006年 9月号 | 色でナノ構造観察する光学顕微鏡 | 阪大 | 日刊工業新聞 (2006年6月21日PP.31) | 散乱光の色の変化 約20nmの金属針 波長532nmの光照射 CNTの構造変化を測定 | 210 320 360 |
2006年 6月号 | 量子コンピュータ素子の計算性能を直接測定 | 物材機構 | 日経産業新聞 (2006年3月20日PP.12) | 素子から出る光の干渉を利用 わずかな距離の差をつけ重ね合せたときの干渉の強さから時間を測定 2個の励起子分子の継続時間5.4psを測定 | 220 320 |
2006年 6月号 | 量子もつれ振動を観測 | NTT JST | 日刊工業新聞 (2006年3月31日PP.37) | 超電導量子ビットと単一光子の組合せ 超電導量子ビットと電気回路を微細加工技術で同一半導体チップ上に作製し極低温で測定 | 160 320 |
2005年 3月号 | 溶液中で性質を測定できるICタグ | 日立 | 日経産業新聞 (2004年12月6日PP.8) | 通信可能距離1〜7.5cm 温度センサ -30〜120℃の範囲で0.5℃精度 pH4〜9まで対応 | 210 320 340 |
2004年12月号 | PDPスクリーンマスク -最大級を高精度測定- | ブイ・テクノロジー | 日刊工業新聞 (2004年9月30日PP.1) | 多面取り 左右ドライブ方式 測定精度3σ トータルピッチ5μm 線幅測定時0.2μm 3500×3600mm | 250 320 660 |
2004年 7月号 | においを測定・監視 | 双葉エレ 東工大 | 日刊工業新聞 (2004年4月5日PP.11) | OMU-Sn 定量・数値化データベース | 320 620 |
2007年 1月号 | 世界最短の光学現象測定 | 理研 東大 | 日刊工業新聞 (2006年10月18日PP.29) | 極端紫外線レーザ光 2光子クーロン爆発 320アト秒幅のパルス光が1000兆分の1.33秒毎に連なった構成を確認 非線形光学現象 規則正しい波の構造 | 250 660 |
2006年 9月号 | 色でナノ構造観察する光学顕微鏡 | 阪大 | 日刊工業新聞 (2006年6月21日PP.31) | 散乱光の色の変化 約20nmの金属針 波長532nmの光照射 CNTの構造変化を測定 | 210 320 360 |
2006年 6月号 | 量子コンピュータ素子の計算性能を直接測定 | 物材機構 | 日経産業新聞 (2006年3月20日PP.12) | 素子から出る光の干渉を利用 わずかな距離の差をつけ重ね合せたときの干渉の強さから時間を測定 2個の励起子分子の継続時間5.4psを測定 | 220 320 |
2006年 6月号 | 量子もつれ振動を観測 | NTT JST | 日刊工業新聞 (2006年3月31日PP.37) | 超電導量子ビットと単一光子の組合せ 超電導量子ビットと電気回路を微細加工技術で同一半導体チップ上に作製し極低温で測定 | 160 320 |
2002年10月号 | 光ファィバ波長分散測定器 -片端だけで測定- | アドバンテスト | 日経産業新聞 (2002年7月12日) | 波長分散分布 OTDR方式 | 320 440 |
2002年 4月号 | ゆがんだ文字を自動補正して撮影 | 名工大 富士ゼロックス | 日経産業新聞 (2002年1月29日PP.9) | 紙の曲がりを赤外カメラで測定 曲面形状を数式化 | 310 520 320 |
1999年10月号 | 金属の劣化磁気変化で測定する非破壊検査装置 | 豊橋技科大 | 日経産業新聞 (1999年8月12日PP.2) | ステンレス GaAs | 320 |
1997年 9月号 | 光ファイバをセンサに用いた形状変化計測技術 | NTT | 電波新聞 (1997年7月15日PP.12) | センサ 光ファイバ 歪測定 | 210 240 320 |
1997年 7月号 | 障害点測定器 -波長多重方式に対応- | アーバンテスト KDD | 日経産業新聞 (1997年5月12日PP.13) | 障害点測定器 光ケーブル | 320 240 |
1997年 2月号 | CRT蛍光面とシャドウマスクの間隔精密に測定する装置 | 壷坂電機 | 日経産業新聞 (1996年12月10日PP.1) | CRT 間隔測定 | 320 660 250 |
1996年12月号 | 光磁気効果を紫外線領域で測定可能な新システム | 豊田工大 | 日経産業新聞 (1996年10月29日PP.5) 日刊工業新聞 (1996年10月29日PP.11) | 測定装置 | 320 360 |
1996年 1月号 | ディジタル映像信号の測定装置 -監視 保守機能も追加- | リーダー電子 NHK | 日経産業新聞 (1995年11月15日PP.11) | ディジタル映像信号 測定システム | 320 |
1994年11月号 | 新型変位計 -レーザ光で凹凸測定- | キーエンス | 日経産業新聞 (1994年9月8日PP.1) | 変位計 | 320 250 |