研究会情報 |
研究会 |
IST |
開催期間 |
2009-09-28 - 2009-09-28 |
開催地(和) |
機械振興会館 |
開催地(英) |
Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. |
テーマ(和) |
携帯電話用カメラ,デジタルスチルカメラ,ビデオカメラ(ハイビジョン)とそのためのイメージセンサ,モジュール |
テーマ(英) |
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講演論文情報の詳細 |
申込み研究会 |
IST |
会議コード |
2009-09-IST |
本文の言語 |
日本語 |
タイトル(和) |
CMOSイメージセンサの暗電流に対する負電圧駆動および光ストレスの効果 |
サブタイトル(和) |
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タイトル(英) |
Effects of Negative Bias Operation and Optical Stress on Dark Current |
サブタイトル(英) |
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キーワード(1)(和/英) |
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キーワード(8)(和/英) |
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第1著者 氏名(和/英/ヨミ) |
渡辺 恭志 / Takashi Watanabe / ワタナベ タカシ |
第1著者 所属(和/英) |
(株)ブルックマン テクノロジ (略称: ブルックマンテクノロジ)
Brookman Technology, Inc. (略称: Brookman Tech.) |
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) |
朴 鍾皓 / Jong-Ho Park / |
第2著者 所属(和/英) |
(株)ブルックマン テクノロジ (略称: ブルックマンテクノロジ)
Brookman Technology, Inc. (略称: Brookman Tech.) |
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) |
青山 聡 / Satoshi Aoyama / |
第3著者 所属(和/英) |
(株)ブルックマン テクノロジ (略称: ブルックマンテクノロジ)
Brookman Technology, Inc. (略称: Brookman Tech.) |
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) |
磯部 圭吾 / Keigo Isobe / |
第4著者 所属(和/英) |
(株)ブルックマン テクノロジ (略称: ブルックマンテクノロジ)
Brookman Technology, Inc. (略称: Brookman Tech.) |
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) |
川人 祥二 / Shoji Kawahito / |
第5著者 所属(和/英) |
静岡大学/(株)ブルックマン テクノロジ (略称: 静岡大)
Shizuoka University/Brookman Technology, Inc. (略称: Shizuoka Univ.) |
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第7著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第8著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第9著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第10著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第11著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第12著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第13著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第14著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第15著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第16著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第17著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第18著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第19著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第20著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第21著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第22著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第23著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第24著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第25著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第26著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第27著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第28著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第29著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第30著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第31著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第32著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第33著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第34著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第35著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第36著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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講演者 |
第1著者 |
発表日時 |
2009-09-28 13:30:00 |
発表時間 |
30分 |
申込先研究会 |
IST |
資料番号 |
IST2009-47 |
巻番号(vol) |
vol.33 |
号番号(no) |
no.38 |
ページ範囲 |
pp.5-8 |
ページ数 |
4 |
発行日 |
2009-09-21 (IST) |