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講演抄録/キーワード
講演名 2009-12-11 10:00
色毎の飽和光量差を低減したWRGB市松画素LOFIC CMOSイメージセンサ
川田 峻酒井 伸東北大)・赤羽奈々日本テキサス・インスツルメンツ)・黒田理人須川成利東北大
抄録 (和) イメージセンサの高感度化のために,W(白)画素を導入して感度を高めたWRGBイメージセンサが報告されている.しかし,高感度なW画素により飽和性能が制限され,ダイナミックレンジが狭められていた.そこで,感度と飽和電荷量を独立に設計可能な横型オーバーフロー蓄積容量(LOFIC)技術を導入して,全色で高い感度を維持しながら色ごとに飽和電荷量を独立設計し,全色でほぼ等しい飽和光量を持たせてダイナミックレンジを狭めることなくW画素を導入したWRGB CMOSイメージセンサを開発し,従来RGBイメージセンサに比べての約2倍の実効感度と102-dBのダイナミックレンジを達成した. 
(英) We have developed a WRGB CMOS image sensor with lateral overflow integration capacitor (LOFIC) technology in order to achieve almost the same saturation exposure with wide dynamic range. The WRGB LOFIC CMOS image sensor with a 1/3.3-inch optical format, 1280(H) x 480(V) pixels, 4.2-um effective pixel pitch with 45 degree direction was designed and fabricated through 0.18-um 2P3M CMOS technology with buried pinned photodiode process. This image sensor has achieved about 108-uV/e- high conversion gain and about 102-dB dynamic range performance in one exposure.
キーワード (和) CMOSイメージセンサ / WRGBカラーフィルタ / LOFIC / / / / /  
(英) CMOS image sensor / WRGB color filter / LOFIC / / / / /  
文献情報 映情学技報, vol. 33, no. 56, IST2009-95, pp. 21-24, 2009年12月.
資料番号 IST2009-95 
発行日 2009-12-03 (IST) 
ISSN Print edition: ISSN 1342-6893  Online edition: ISSN 2424-1970
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研究会情報
研究会 IST  
開催期間 2009-12-10 - 2009-12-11 
開催地(和) 東京大学本郷キャンパス 
開催地(英) Univ. of Tokyo 
テーマ(和) 高機能イメージセンシングとその応用 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 IST 
会議コード 2009-12-IST 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 色毎の飽和光量差を低減したWRGB市松画素LOFIC CMOSイメージセンサ 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) A Checkered WRGB LOFIC CMOS Image Sensor for Almost the Same Saturation Illuminance 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) CMOSイメージセンサ / CMOS image sensor  
キーワード(2)(和/英) WRGBカラーフィルタ / WRGB color filter  
キーワード(3)(和/英) LOFIC / LOFIC  
キーワード(4)(和/英) /  
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キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 川田 峻 / Shun Kawada / カワダ シュン
第1著者 所属(和/英) 東北大学 (略称: 東北大)
Tohoku Universiy (略称: Tohoku Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 酒井 伸 / Shin Sakai / サカイ シン
第2著者 所属(和/英) 東北大学 (略称: 東北大)
Tohoku Universiy (略称: Tohoku Univ.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 赤羽 奈々 / Nana Akahane / アカハネ ナナ
第3著者 所属(和/英) 日本テキサス・インスツルメンツ株式会社 (略称: 日本テキサス・インスツルメンツ)
Texas Instruments Japan (略称: TI Japan)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 黒田 理人 / Rihito Kuroda / クロダ リヒト
第4著者 所属(和/英) 東北大学 (略称: 東北大)
Tohoku Universiy (略称: Tohoku Univ.)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 須川 成利 / Shigetoshi Sugawa / スガワ シゲトシ
第5著者 所属(和/英) 東北大学 (略称: 東北大)
Tohoku Universiy (略称: Tohoku Univ.)
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講演者
発表日時 2009-12-11 10:00:00 
発表時間 30 
申込先研究会 IST 
資料番号 ITE-IST2009-95 
巻番号(vol) ITE-33 
号番号(no) no.56 
ページ範囲 pp.21-24 
ページ数 ITE-4 
発行日 ITE-IST-2009-12-03 


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