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講演抄録/キーワード
講演名 2010-12-16 11:30
署名認証における平均的な筆記時間とペンの高度を用いたスクリーニング手法の提案
小山恭平吉田孝博和田直哉半谷精一郎東京理科大
抄録 (和) オンライン署名照合において,悪意を持った攻撃者による偽筆署名への耐性向上が実装上の課題となっている.偽筆の例には,本人の筆跡を見ながら書いた「見まね偽筆」と,本人の筆跡の上からなぞった「なぞり偽筆」があり,これらをどのように排除するかが重要である.本研究では,20人による2種類の偽筆署名を平均筆記時間と平均的なペンの傾きで,どの程度スクリーニングできるかを調査した.その結果,平均筆記時間では85%の偽筆を,平均的なペンの傾きで50%以上の偽筆を排除できることが判明した. 
(英) In online signature verification, an improvement of robustness to imitating forgeries and tracing forgeries is subject to consider for installation. In other word, it is important to reject such forgeries efficiently. In this report, we have investigated a screening method using mean signature time and mean pen altitude from the view point of the rejection rate of two kinds of forgeries written by 20 persons. From the result, we can reject 85% forgeries only by mean signature time and more than 50% forgeries by mean pen altitude.
キーワード (和) 署名認証 / 平均筆記時間 / 平均的なペンの傾き / スクリーニング / / / /  
(英) Signature Verification / Mean Signature Time / Mean Pen Altitude / Screening / / / /  
文献情報 映情学技報, vol. 34, no. 54, ME2010-166, pp. 9-12, 2010年12月.
資料番号  
発行日 2010-12-09 (ME) 
ISSN Print edition: ISSN 1342-6893  Online edition: ISSN 2424-1970
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研究会情報
研究会 ME IEICE-BS  
開催期間 2010-12-16 - 2010-12-17 
開催地(和) 首都大学東京・秋葉原サテライトキャンパス 
開催地(英) Tokyo Metropolitan Univ. 
テーマ(和) メディア処理とバイオメトリクス及び一般 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 IEICE-BS 
会議コード 2010-12-ME-BS 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 署名認証における平均的な筆記時間とペンの高度を用いたスクリーニング手法の提案 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) A Proposal of Screening Method using signature period and pen altitude in Signature Verification 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 署名認証 / Signature Verification  
キーワード(2)(和/英) 平均筆記時間 / Mean Signature Time  
キーワード(3)(和/英) 平均的なペンの傾き / Mean Pen Altitude  
キーワード(4)(和/英) スクリーニング / Screening  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 小山 恭平 / Kyohei Koyama / コヤマ キョウヘイ
第1著者 所属(和/英) 東京理科大学 (略称: 東京理科大)
Tokyo University of science (略称: Tokyo Univ of science)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 吉田 孝博 / Takahiro Yoshida / ヨシダ タカヒロ
第2著者 所属(和/英) 東京理科大学 (略称: 東京理科大)
Tokyo University of science (略称: Tokyo Univ of science)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 和田 直哉 / Noya Wada / ワダ ナオヤ
第3著者 所属(和/英) 東京理科大学 (略称: 東京理科大)
Tokyo University of science (略称: Tokyo Univ of science)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 半谷 精一郎 / Seiichiro Hangai /
第4著者 所属(和/英) 東京理科大学 (略称: 東京理科大)
Tokyo University of science (略称: Tokyo Univ of science)
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講演者
発表日時 2010-12-16 11:30:00 
発表時間 30 
申込先研究会 IEICE-BS 
資料番号 ITE-ME2010-166 
巻番号(vol) ITE-34 
号番号(no) no.54 
ページ範囲 pp.9-12 
ページ数 ITE-4 
発行日 ITE-ME-2010-12-09 


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