| 講演抄録／キーワード |
| 講演名 |
2011-01-29 09:25
偏光板の複素屈折率のエリプソメトリによる解析
○近藤 勉・石鍋隆宏・宮下哲哉（東北大）・内田龍男（仙台高専） |
| 抄録 |
（和） |
近年、液晶ディスプレイは様々な用途で実用化されているが、明るさ、コントラスト比の改善はいまだ重要な課題である。このためには偏光板の性能の向上が必要であり、偏光板の複素屈折率の解析とそれが光学特性に与える影響を正確に把握することは高性能偏光板の製造、設計において重要となる。本研究では偏光板の複素屈折率をエリプソメトリを用いて高精度に解析する方法およびそれが液晶ディスプレイの光学特性に与える影響について検討を行った。 |
| （英） |
Improvement of the optical performance of polarizer has become important problem for the improvement of brightness and contrast ratio of liquid crystal displays. Analysis of complex refractive index of polarizer and understanding of its influence to the optical characteristic of liquid crystal display is important in the design of the efficient polarizer. In this paper, we devised new method for analyzing the complex refractive index of polarizer accurately by ellipsometry, and clarified its influence to the optical characteristic of the liquid crystal display. |
| キーワード |
（和） |
偏光板 / 複素屈折率の測定 / 液晶ディスプレイ / / / / / |
| （英） |
Polarizer / Analysis of complex refractive index / Liquid crystal display / / / / / |
| 文献情報 |
映情学技報, vol. 35, no. 4, IDY2011-7, pp. 69-72, 2011年1月. |
| 資料番号 |
IDY2011-7 |
| 発行日 |
2011-01-21 (IDY) |
| ISSN |
Print edition: ISSN 1342-6893 |
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