研究会情報 |
研究会 |
IST IEICE-ICD |
開催期間 |
2013-07-04 - 2013-07-05 |
開催地(和) |
サン・リフレ函館 |
開催地(英) |
Sun ref re Hakodate |
テーマ(和) |
アナログ、アナデジ混載、RF及びセンサインタフェース回路 |
テーマ(英) |
Analog circuits, Mixed signal, RF and Sensor I/F, etc. |
講演論文情報の詳細 |
申込み研究会 |
IEICE-ICD |
会議コード |
2013-07-ICD-IST |
本文の言語 |
日本語 |
タイトル(和) |
低電源電圧におけるフリップフロップの故障モードの解析 |
サブタイトル(和) |
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タイトル(英) |
Failure mode analysis for flip-flops at low voltages |
サブタイトル(英) |
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キーワード(1)(和/英) |
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第1著者 氏名(和/英/ヨミ) |
藤田 隆史 / Takafumi Fujita / フジタ タカフミ |
第1著者 所属(和/英) |
京都大学 (略称: 京大)
Kyouto University (略称: Kyouto Univ.) |
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) |
川島 潤也 / Junya Kawashima / カワシマ ジュンヤ |
第2著者 所属(和/英) |
京都大学 (略称: 京大)
Kyouto University (略称: Kyouto Univ.) |
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) |
越智 裕之 / Hiroyuki Ochi / オチ ヒロユキ |
第3著者 所属(和/英) |
立命館大学 (略称: 立命館大)
Ritsumeikan University (略称: Ritsumeikan Univ.) |
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) |
筒井 弘 / Hiroshi Thutsui / ヒロシ ツツイ |
第4著者 所属(和/英) |
京都大学 (略称: 京大)
Kyouto University (略称: Kyouto Univ.) |
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) |
佐藤 高史 / Takashi Sato / サトウ タカシ |
第5著者 所属(和/英) |
京都大学 (略称: 京大)
Kyouto University (略称: Kyouto Univ.) |
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第7著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第8著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第9著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第10著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第11著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第12著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第13著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第14著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第15著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第16著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第17著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第18著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第19著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第20著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第21著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第22著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第23著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第24著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第25著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第26著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第27著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第28著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第29著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第30著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第31著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第32著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第33著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第34著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第35著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第36著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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講演者 |
第1著者 |
発表日時 |
2013-07-05 17:45:00 |
発表時間 |
25分 |
申込先研究会 |
IEICE-ICD |
資料番号 |
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巻番号(vol) |
vol.37 |
号番号(no) |
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ページ範囲 |
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ページ数 |
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発行日 |
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