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講演抄録／キーワード
講演名
2013-07-05 16:55
Independent-Double-Gate-FinFETの1/fノイズ特性に関する研究
○
坂井秀男
（
慶大
）・
大内真一
・
遠藤和彦
・
松川 貴
・
柳 永シュン
・
石川由紀
・
塚田順一
・
中川 格
・
関川敏弘
・
小池帆平
・
昌原明植
（
産総研
）・
石黒仁揮
（
慶大
）
抄録
（和）
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（英）
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キーワード
（和）
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（英）
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文献情報
映情学技報
資料番号
発行日
ISSN
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研究会情報
研究会
IST IEICE-ICD
開催期間
2013-07-04 - 2013-07-05
開催地（和）
サン・リフレ函館
開催地（英）
Sun ref re Hakodate
テーマ（和）
アナログ、アナデジ混載、RF及びセンサインタフェース回路
テーマ（英）
Analog circuits, Mixed signal, RF and Sensor I/F, etc.
講演論文情報の詳細
申込み研究会
IEICE-ICD
会議コード
2013-07-ICD-IST
本文の言語
日本語
タイトル（和）
Independent-Double-Gate-FinFETの1/fノイズ特性に関する研究
サブタイトル（和）
タイトル（英）
A Study on 1/f Noise Characteristic in Independent-Double-Gate-FinFET
サブタイトル（英）
キーワード(1)（和/英）
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キーワード(2)（和/英）
/
キーワード(3)（和/英）
/
キーワード(4)（和/英）
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キーワード(5)（和/英）
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キーワード(6)（和/英）
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キーワード(7)（和/英）
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キーワード(8)（和/英）
/
第1著者 氏名（和/英/ヨミ）
坂井 秀男
/
Hideo Sakai
/
サカイ ヒデオ
第1著者 所属（和/英）
慶應義塾大学
(略称：
慶大
)
Keio University
(略称：
Keio Univ.
)
第2著者 氏名（和/英/ヨミ）
大内 真一
/
Shin-ichi O'uchi
/
オオウチ シンイチ
第2著者 所属（和/英）
産業技術総合研究所
(略称：
産総研
)
National Institute of AIST
(略称：
AIST
)
第3著者 氏名（和/英/ヨミ）
遠藤 和彦
/
Kazuhiko Endo
/
エンドウ カズヒコ
第3著者 所属（和/英）
産業技術総合研究所
(略称：
産総研
)
National Institute of AIST
(略称：
AIST
)
第4著者 氏名（和/英/ヨミ）
松川 貴
/
Takashi Matsukawa
/
マツカワ タカシ
第4著者 所属（和/英）
産業技術総合研究所
(略称：
産総研
)
National Institute of AIST
(略称：
AIST
)
第5著者 氏名（和/英/ヨミ）
柳 永シュン
/
Yongxun Liu
/
リュウ ユウシュン
第5著者 所属（和/英）
産業技術総合研究所
(略称：
産総研
)
National Institute of AIST
(略称：
AIST
)
第6著者 氏名（和/英/ヨミ）
石川 由紀
/
Yuki Ishikawa
/
イシカワ ユキ
第6著者 所属（和/英）
産業技術総合研究所
(略称：
産総研
)
National Institute of AIST
(略称：
AIST
)
第7著者 氏名（和/英/ヨミ）
塚田 順一
/
Junichi Tsukada
/
ツカダ ジュンイチ
第7著者 所属（和/英）
産業技術総合研究所
(略称：
産総研
)
National Institute of AIST
(略称：
AIST
)
第8著者 氏名（和/英/ヨミ）
中川 格
/
Tadashi Nakagawa
/
ナカガワ タダシ
第8著者 所属（和/英）
産業技術総合研究所
(略称：
産総研
)
National Institute of AIST
(略称：
AIST
)
第9著者 氏名（和/英/ヨミ）
関川 敏弘
/
Toshihiro Sekigawa
/
セキガワ トシヒロ
第9著者 所属（和/英）
産業技術総合研究所
(略称：
産総研
)
National Institute of AIST
(略称：
AIST
)
第10著者 氏名（和/英/ヨミ）
小池 帆平
/
Hanpei Koike
/
コイケ ハンペイ
第10著者 所属（和/英）
産業技術総合研究所
(略称：
産総研
)
National Institute of AIST
(略称：
AIST
)
第11著者 氏名（和/英/ヨミ）
昌原 明植
/
Meishoku Masahara
/
マサハラ メイショク
第11著者 所属（和/英）
産業技術総合研究所
(略称：
産総研
)
National Institute of AIST
(略称：
AIST
)
第12著者 氏名（和/英/ヨミ）
石黒 仁揮
/
Hiroki Ishikuro
/
イシクロ ヒロキ
第12著者 所属（和/英）
慶應義塾大学
(略称：
慶大
)
Keio University
(略称：
Keio Univ.
)
第13著者 氏名（和/英/ヨミ）
/ /
第13著者 所属（和/英）
(略称： )
(略称： )
第14著者 氏名（和/英/ヨミ）
/ /
第14著者 所属（和/英）
(略称： )
(略称： )
第15著者 氏名（和/英/ヨミ）
/ /
第15著者 所属（和/英）
(略称： )
(略称： )
第16著者 氏名（和/英/ヨミ）
/ /
第16著者 所属（和/英）
(略称： )
(略称： )
第17著者 氏名（和/英/ヨミ）
/ /
第17著者 所属（和/英）
(略称： )
(略称： )
第18著者 氏名（和/英/ヨミ）
/ /
第18著者 所属（和/英）
(略称： )
(略称： )
第19著者 氏名（和/英/ヨミ）
/ /
第19著者 所属（和/英）
(略称： )
(略称： )
第20著者 氏名（和/英/ヨミ）
/ /
第20著者 所属（和/英）
(略称： )
(略称： )
講演者
第1著者
発表日時
2013-07-05 16:55:00
発表時間
25分
申込先研究会
IEICE-ICD
資料番号
巻番号（vol）
vol.37
号番号（no）
ページ範囲
ページ数
発行日
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