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講演抄録/キーワード
講演名
2013-07-05 16:55
Independent-Double-Gate-FinFETの1/fノイズ特性に関する研究
○
坂井秀男
(
慶大
)・
大内真一
・
遠藤和彦
・
松川 貴
・
柳 永シュン
・
石川由紀
・
塚田順一
・
中川 格
・
関川敏弘
・
小池帆平
・
昌原明植
(
産総研
)・
石黒仁揮
(
慶大
)
抄録
(和)
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(英)
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キーワード
(和)
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(英)
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文献情報
映情学技報
資料番号
発行日
ISSN
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研究会情報
研究会
IST IEICE-ICD
開催期間
2013-07-04 - 2013-07-05
開催地(和)
サン・リフレ函館
開催地(英)
Sun ref re Hakodate
テーマ(和)
アナログ、アナデジ混載、RF及びセンサインタフェース回路
テーマ(英)
Analog circuits, Mixed signal, RF and Sensor I/F, etc.
講演論文情報の詳細
申込み研究会
IEICE-ICD
会議コード
2013-07-ICD-IST
本文の言語
日本語
タイトル(和)
Independent-Double-Gate-FinFETの1/fノイズ特性に関する研究
サブタイトル(和)
タイトル(英)
A Study on 1/f Noise Characteristic in Independent-Double-Gate-FinFET
サブタイトル(英)
キーワード(1)(和/英)
/
キーワード(2)(和/英)
/
キーワード(3)(和/英)
/
キーワード(4)(和/英)
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キーワード(5)(和/英)
/
キーワード(6)(和/英)
/
キーワード(7)(和/英)
/
キーワード(8)(和/英)
/
第1著者 氏名(和/英/ヨミ)
坂井 秀男
/
Hideo Sakai
/
サカイ ヒデオ
第1著者 所属(和/英)
慶應義塾大学
(略称:
慶大
)
Keio University
(略称:
Keio Univ.
)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ)
大内 真一
/
Shin-ichi O'uchi
/
オオウチ シンイチ
第2著者 所属(和/英)
産業技術総合研究所
(略称:
産総研
)
National Institute of AIST
(略称:
AIST
)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ)
遠藤 和彦
/
Kazuhiko Endo
/
エンドウ カズヒコ
第3著者 所属(和/英)
産業技術総合研究所
(略称:
産総研
)
National Institute of AIST
(略称:
AIST
)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ)
松川 貴
/
Takashi Matsukawa
/
マツカワ タカシ
第4著者 所属(和/英)
産業技術総合研究所
(略称:
産総研
)
National Institute of AIST
(略称:
AIST
)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ)
柳 永シュン
/
Yongxun Liu
/
リュウ ユウシュン
第5著者 所属(和/英)
産業技術総合研究所
(略称:
産総研
)
National Institute of AIST
(略称:
AIST
)
第6著者 氏名(和/英/ヨミ)
石川 由紀
/
Yuki Ishikawa
/
イシカワ ユキ
第6著者 所属(和/英)
産業技術総合研究所
(略称:
産総研
)
National Institute of AIST
(略称:
AIST
)
第7著者 氏名(和/英/ヨミ)
塚田 順一
/
Junichi Tsukada
/
ツカダ ジュンイチ
第7著者 所属(和/英)
産業技術総合研究所
(略称:
産総研
)
National Institute of AIST
(略称:
AIST
)
第8著者 氏名(和/英/ヨミ)
中川 格
/
Tadashi Nakagawa
/
ナカガワ タダシ
第8著者 所属(和/英)
産業技術総合研究所
(略称:
産総研
)
National Institute of AIST
(略称:
AIST
)
第9著者 氏名(和/英/ヨミ)
関川 敏弘
/
Toshihiro Sekigawa
/
セキガワ トシヒロ
第9著者 所属(和/英)
産業技術総合研究所
(略称:
産総研
)
National Institute of AIST
(略称:
AIST
)
第10著者 氏名(和/英/ヨミ)
小池 帆平
/
Hanpei Koike
/
コイケ ハンペイ
第10著者 所属(和/英)
産業技術総合研究所
(略称:
産総研
)
National Institute of AIST
(略称:
AIST
)
第11著者 氏名(和/英/ヨミ)
昌原 明植
/
Meishoku Masahara
/
マサハラ メイショク
第11著者 所属(和/英)
産業技術総合研究所
(略称:
産総研
)
National Institute of AIST
(略称:
AIST
)
第12著者 氏名(和/英/ヨミ)
石黒 仁揮
/
Hiroki Ishikuro
/
イシクロ ヒロキ
第12著者 所属(和/英)
慶應義塾大学
(略称:
慶大
)
Keio University
(略称:
Keio Univ.
)
第13著者 氏名(和/英/ヨミ)
/ /
第13著者 所属(和/英)
(略称: )
(略称: )
第14著者 氏名(和/英/ヨミ)
/ /
第14著者 所属(和/英)
(略称: )
(略称: )
第15著者 氏名(和/英/ヨミ)
/ /
第15著者 所属(和/英)
(略称: )
(略称: )
第16著者 氏名(和/英/ヨミ)
/ /
第16著者 所属(和/英)
(略称: )
(略称: )
第17著者 氏名(和/英/ヨミ)
/ /
第17著者 所属(和/英)
(略称: )
(略称: )
第18著者 氏名(和/英/ヨミ)
/ /
第18著者 所属(和/英)
(略称: )
(略称: )
第19著者 氏名(和/英/ヨミ)
/ /
第19著者 所属(和/英)
(略称: )
(略称: )
第20著者 氏名(和/英/ヨミ)
/ /
第20著者 所属(和/英)
(略称: )
(略称: )
講演者
第1著者
発表日時
2013-07-05 16:55:00
発表時間
25分
申込先研究会
IEICE-ICD
資料番号
巻番号(vol)
vol.37
号番号(no)
ページ範囲
ページ数
発行日
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