| 講演抄録／キーワード |
| 講演名 |
2016-09-26 13:50
適応ゲイン型カラムADCと積層構造を用いた830万画素480fpsグローバルシャッタCMOSイメージセンサ
○加藤祐理・大池祐輔・秋山健太郎・ルォン フォン・新妻 渉・加藤昭彦・佐藤 守・中村 渉・城下寛司・坂野頼人・北野良昭・中村卓矢・遠山隆之・岩元勇人・江崎孝之（ソニー） |
| 抄録 |
（和） |
830万画素を毎秒480フレームで読出し可能な，グローバルシャッタを備えた，スーパー35mmフォーマットのCMOSイメージセンサを開発した．
新規開発した適応ゲイン型カラムADCを搭載して923mVの信号振幅に対して140uVrmsのノイズレベルを達成した．
本ADCはオンチップのゲイン補正回路を用いて，ゲイン切り替え時の非線形性を0.18%以下に抑えた．
また，4.752Gbps×16chの出力インタフェースが搭載されたロジックチップを，センサチップ上に38k個のマイクロバンプを用いて積層し，高速な信号出力を可能にした． |
| （英） |
A 4K2K 480 fps global-shutter CMOS image sensor has been developed with super 35 mm format.
This sensor employs newly developed gain-adaptive column ADCs to attain a dark random noise of 140 μVrms for the full-scale readout of 923 mV.
An on-chip online correction of the error between two switchable gains maintains the nonlinearity of output image within 0.18 %.
The 16-channel output interfaces with 4.752 Gbps/ch are implemented in 2 diced logic chips stacked on a sensor chip with 38K micro bumps. |
| キーワード |
（和） |
CMOSイメージセンサ / 適応ゲイン / 積層構造 / カラムADC / / / / |
| （英） |
CMOS Image Sensor / Gain-Adaptive Column ADC / Stacked Device / SS-ADC / / / / |
| 文献情報 |
映情学技報, vol. 40, no. 32, IST2016-43, pp. 7-10, 2016年9月. |
| 資料番号 |
IST2016-43 |
| 発行日 |
2016-09-19 (IST) |
| ISSN |
Print edition: ISSN 1342-6893 Online edition: ISSN 2424-1970 |
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