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講演抄録/キーワード
講演名 2018-11-28 16:30
[ポスター講演]Averaging Pixel Current Calibration Algorithm for Reducing Fixed Pattern Noise in the Bolometer-Type Uncooled Infrared Image Sensor
Sang-Hwan KimByoung-Soo ChoiJimin LeeJunwoo LeeJewon LeeKyungpook National Univ.)・Jae-Hyoun ParkKyoung-Il LeeKETI)・Jang-Kyoo ShinKyungpook National Univ.
抄録 (和) In this paper, we propose an averaging pixel current calibration algorithm for reducing fixed pattern noise (FPN) in the bolometer-type uncooled infrared image sensor. The averaging pixel current calibration algorithm is implemented by using active pixel, reference pixel, and calibration circuit. Active pixel and reference pixel have been integrated using on-chip polysilicon resistors. Resistance variation among active pixels due to process variation causes FPN. The principle of algorithm is that the dark current of reference pixel array is subtracted by the dark current of each active pixel. Thereafter, the subtracted current is converted into the voltage and the voltage is related to the pixel resistance value. Calibration circuit is used to adjust the calibration current. After calibration, nanoampere current is output with small variation. The proposed averaging pixel current calibration algorithm is implemented by a chip which is composed of a 4 by 16 pixel array, calibration circuit, average current generators, and readout circuits. The chip was fabricated by using standard 0.35-μm CMOS process and its performance was evaluated. 
(英) In this paper, we propose an averaging pixel current calibration algorithm for reducing fixed pattern noise (FPN) in the bolometer-type uncooled infrared image sensor. The averaging pixel current calibration algorithm is implemented by using active pixel, reference pixel, and calibration circuit. Active pixel and reference pixel have been integrated using on-chip polysilicon resistors. Resistance variation among active pixels due to process variation causes FPN. The principle of algorithm is that the dark current of reference pixel array is subtracted by the dark current of each active pixel. Thereafter, the subtracted current is converted into the voltage and the voltage is related to the pixel resistance value. Calibration circuit is used to adjust the calibration current. After calibration, nanoampere current is output with small variation. The proposed averaging pixel current calibration algorithm is implemented by a chip which is composed of a 4 by 16 pixel array, calibration circuit, average current generators, and readout circuits. The chip was fabricated by using standard 0.35-μm CMOS process and its performance was evaluated.
キーワード (和) pixel current calibration algorithm / uncooled infrared image sensor / bolometer / fixed pattern noise / / / /  
(英) pixel current calibration algorithm / uncooled infrared image sensor / bolometer / fixed pattern noise / / / /  
文献情報 映情学技報, vol. 42, no. 40, IST2018-78, pp. 39-40, 2018年11月.
資料番号 IST2018-78 
発行日 2018-11-21 (IST) 
ISSN Print edition: ISSN 1342-6893  Online edition: ISSN 2424-1970

研究会情報
研究会 IST  
開催期間 2018-11-28 - 2018-11-28 
開催地(和) 東工大田町キャンパス 
開催地(英) Tamachi Campus, TITECH 
テーマ(和) 4th International Workshop on Image Sensors and Imaging Systems (IWISS2018) 
テーマ(英) 4th International Workshop on Image Sensors and Imaging Systems (IWISS2018) 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 IST 
会議コード 2018-11-IST 
本文の言語 英語 
タイトル(和)  
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Averaging Pixel Current Calibration Algorithm for Reducing Fixed Pattern Noise in the Bolometer-Type Uncooled Infrared Image Sensor 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) pixel current calibration algorithm / pixel current calibration algorithm  
キーワード(2)(和/英) uncooled infrared image sensor / uncooled infrared image sensor  
キーワード(3)(和/英) bolometer / bolometer  
キーワード(4)(和/英) fixed pattern noise / fixed pattern noise  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) Sang-Hwan Kim / Sang-Hwan Kim /
第1著者 所属(和/英) Kyungpook National University (略称: Kyungpook National Univ.)
Kyungpook National University (略称: Kyungpook National Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) Byoung-Soo Choi / Byoung-Soo Choi /
第2著者 所属(和/英) Kyungpook National University (略称: Kyungpook National Univ.)
Kyungpook National University (略称: Kyungpook National Univ.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) Jimin Lee / Jimin Lee /
第3著者 所属(和/英) Kyungpook National University (略称: Kyungpook National Univ.)
Kyungpook National University (略称: Kyungpook National Univ.)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) Junwoo Lee / Junwoo Lee /
第4著者 所属(和/英) Kyungpook National University (略称: Kyungpook National Univ.)
Kyungpook National University (略称: Kyungpook National Univ.)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) Jewon Lee / Jewon Lee /
第5著者 所属(和/英) Kyungpook National University (略称: Kyungpook National Univ.)
Kyungpook National University (略称: Kyungpook National Univ.)
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) Jae-Hyoun Park / Jae-Hyoun Park /
第6著者 所属(和/英) Korea Electronics Technology Institute (略称: KETI)
Korea Electronics Technology Institute (略称: KETI)
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) Kyoung-Il Lee / Kyoung-Il Lee /
第7著者 所属(和/英) Korea Electronics Technology Institute (略称: KETI)
Korea Electronics Technology Institute (略称: KETI)
第8著者 氏名(和/英/ヨミ) Jang-Kyoo Shin / Jang-Kyoo Shin /
第8著者 所属(和/英) Kyungpook National University (略称: Kyungpook National Univ.)
Kyungpook National University (略称: Kyungpook National Univ.)
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講演者
発表日時 2018-11-28 16:30:00 
発表時間 90 
申込先研究会 IST 
資料番号 ITE-IST2018-78 
巻番号(vol) ITE-42 
号番号(no) no.40 
ページ範囲 pp.39-40 
ページ数 ITE-2 
発行日 ITE-IST-2018-11-21 


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