お知らせ ◆映像情報メディア学会における研究会等の開催について (新型コロナウイルス関連)
映像情報メディア学会 研究会発表申込システム
講演論文 詳細
技報閲覧サービス
技報オンライン
 トップに戻る 前のページに戻る   [Japanese] / [English] 

講演抄録/キーワード
講演名 2020-08-06 11:00
グローバルシャッタ向けCMOSテラヘルツイメージセンサの利得バラツキ補正機構
平田脩馬永安佑次澤口浩太朗金澤悠里池辺将之北大
抄録 (和) グローバルシャッタ型CMOSテラヘルツイメージセンサに向けた,利得の画素バラツキ補正機構を提案する.テラヘルツ(Terahertz, THz)波を受信しMOSFETによって包絡線検波を行う際,製造バラツキの影響で画素ごとに利得の変動が生じる.我々は検波用MOSFETの動作点を,基板電位にバイアスされたMOSFETに流れる微小電流を用いて校正し,全ての画素で同時に利得バラツキを抑える方法を提案する.適切に動作点を決定することで,利得の変動を抑えられることをシミュレーションで示した. 
(英) We propose a gain calibration mechanism for the global shutter CMOS terahertz image sensor. Even though we use the MOSFET envelope detector to perform terahertz (THz) detection, process variations that affect device parameters can cause variations in pixel gain. To compensate the pixel variation, we propose to set the bias voltages of the MOSFET on all pixels simultaneously by using a small current condition of the MOSFET. We simulated the variation characteristics and confirmed that appropriate bias-voltage setting can suppress the gain variation .
キーワード (和) テラヘルツ / テラヘルツイメージセンサ / CMOS / 包絡線検波 / 製造バラツキ / バラツキ補償 / グローバルシャッタ /  
(英) terahertz / terahertz image sensor / CMOS / envelope detector / process variation / variation compensation / global shutter /  
文献情報 映情学技報, vol. 44, no. 17, IST2020-39, pp. 9-12, 2020年8月.
資料番号 IST2020-39 
発行日 2020-07-30 (IST) 
ISSN Print edition: ISSN 1342-6893  Online edition: ISSN 2424-1970
PDFダウンロード

研究会情報
研究会 IEICE-ICD IEICE-SDM IST  
開催期間 2020-08-06 - 2020-08-07 
開催地(和) オンライン開催 
開催地(英) Online 
テーマ(和) アナログ、アナデジ混載、RF及びセンサインタフェース回路、低電圧・低消費電力技術、新デバイス・回路とその応用 
テーマ(英) Analog, Mixed Analog and Digital, RF, and Sensor Interface, Low Voltage/Low Power Techniques, Novel Devices/Circuits, and the Applications 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 IST 
会議コード 2020-08-ICD-SDM-IST 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) グローバルシャッタ向けCMOSテラヘルツイメージセンサの利得バラツキ補正機構 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Gain calibration technique for global shutter CMOS terahertz image sensor pixels 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) テラヘルツ / terahertz  
キーワード(2)(和/英) テラヘルツイメージセンサ / terahertz image sensor  
キーワード(3)(和/英) CMOS / CMOS  
キーワード(4)(和/英) 包絡線検波 / envelope detector  
キーワード(5)(和/英) 製造バラツキ / process variation  
キーワード(6)(和/英) バラツキ補償 / variation compensation  
キーワード(7)(和/英) グローバルシャッタ / global shutter  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 平田 脩馬 / Yuma Hirata / ヒラタ ユウマ
第1著者 所属(和/英) 北海道大学 (略称: 北大)
Hokkaido University (略称: Hokkkaido Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 永安 佑次 / Yuji Nagayasu / ナガヤス ユウジ
第2著者 所属(和/英) 北海道大学 (略称: 北大)
Hokkaido University (略称: Hokkkaido Univ.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 澤口 浩太朗 / Kotaro Sawaguchi / サワグチ コウタロウ
第3著者 所属(和/英) 北海道大学 (略称: 北大)
Hokkaido University (略称: Hokkkaido Univ.)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 金澤 悠里 / Yuri Kanazawa / カナザワ ユウリ
第4著者 所属(和/英) 北海道大学 (略称: 北大)
Hokkaido University (略称: Hokkkaido Univ.)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 池辺 将之 / Masayuki Ikebe / イケベ マサユキ
第5著者 所属(和/英) 北海道大学 (略称: 北大)
Hokkaido University (略称: Hokkkaido Univ.)
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第6著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第7著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第8著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第8著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第9著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第9著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第10著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第10著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第11著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第11著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第12著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第12著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第13著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第13著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第14著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第14著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第15著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第15著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第16著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第16著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第17著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第17著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第18著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第18著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第19著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第19著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第20著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第20著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
講演者
発表日時 2020-08-06 11:00:00 
発表時間 25 
申込先研究会 IST 
資料番号 ITE-IST2020-39 
巻番号(vol) ITE-44 
号番号(no) no.17 
ページ範囲 pp.9-12 
ページ数 ITE-4 
発行日 ITE-IST-2020-07-30 


[研究会発表申込システムのトップページに戻る]

[映像情報メディア学会ホームページ]


ITE / 映像情報メディア学会