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講演抄録／キーワード
講演名 2023-03-27 15:40
A 2.2μm three-wafer stacked back side illuminated voltage domain global shutter CMOS image sensor
○Shimpei Fukuoka・Masayuki Uchiyama・Geunsook Park・Alan Chih-Wei Hsiung・Mourad Dauodi・Zhiqiang Lin・Vincent C. Venezia・Lindsay A. Grant（OVT）
抄録 （和） (まだ登録されていません) 
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文献情報 映情学技報, vol. 47, no. 14, IST2023-11, pp. 23-26, 2023年3月.
資料番号 IST2023-11 
発行日 2023-03-20 (IST) 
ISSN Print edition: ISSN 1342-6893    Online edition: ISSN 2424-1970
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研究会情報
研究会 IST  
開催期間 2023-03-27 - 2023-03-27 
開催地（和） 機械振興会館 
開催地（英） Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. 
テーマ（和） 固体撮像技術および一般 
テーマ（英）  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 IST 
会議コード 2023-03-IST 
本文の言語 英語 
タイトル（和）  
サブタイトル（和）  
タイトル（英） A 2.2μm three-wafer stacked back side illuminated voltage domain global shutter CMOS image sensor 
サブタイトル（英）  
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第1著者 氏名（和/英/ヨミ） 福岡 慎平 / Shimpei Fukuoka / フクオカ シンペイ
第1著者 所属（和/英） オムニビジョンテクノロジーズジャパン (略称： OVT)
OMNIVISION Technologies Japan (略称： OVT)
第2著者 氏名（和/英/ヨミ） Masayuki Uchiyama / Masayuki Uchiyama /
第2著者 所属（和/英） OMNIVISION Technologies (略称： OVT)
OMNIVISION Technologies (略称： OVT)
第3著者 氏名（和/英/ヨミ） Geunsook Park / Geunsook Park /
第3著者 所属（和/英） OMNIVISION Technologies (略称： OVT)
OMNIVISION Technologies (略称： OVT)
第4著者 氏名（和/英/ヨミ） Alan Chih-Wei Hsiung / Alan Chih-Wei Hsiung /
第4著者 所属（和/英） OMNIVISION Technologies (略称： OVT)
OMNIVISION Technologies (略称： OVT)
第5著者 氏名（和/英/ヨミ） Mourad Dauodi / Mourad Dauodi /
第5著者 所属（和/英） OMNIVISION Technologies (略称： OVT)
OMNIVISION Technologies (略称： OVT)
第6著者 氏名（和/英/ヨミ） Zhiqiang Lin / Zhiqiang Lin /
第6著者 所属（和/英） OMNIVISION Technologies (略称： OVT)
OMNIVISION Technologies (略称： OVT)
第7著者 氏名（和/英/ヨミ） Vincent C. Venezia / Vincent C. Venezia /
第7著者 所属（和/英） OMNIVISION Technologies (略称： OVT)
OMNIVISION Technologies (略称： OVT)
第8著者 氏名（和/英/ヨミ） Lindsay A. Grant / Lindsay A. Grant /
第8著者 所属（和/英） OMNIVISION Technologies (略称： OVT)
OMNIVISION Technologies (略称： OVT)
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講演者 第1著者 
発表日時 2023-03-27 15:40:00 
発表時間 20分 
申込先研究会 IST 
資料番号 IST2023-11 
巻番号（vol） vol.47 
号番号（no） no.14 
ページ範囲 pp.23-26 
ページ数 4 
発行日 2023-03-20 (IST) 

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