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講演抄録/キーワード
講演名 2026-03-27 15:55
A 25M points/s Back-Illuminated Stacked SPAD Direct Time-of-Flight Depth Sensor with Equivalent Time Sampling and Pixel-Level Threshold Control for Automotive LiDAR
半澤克彦由井達哉細谷昌宏劉 玉清安福 正田中義則田代睦聡トゥメウ アルバートSSS)・山根正孝柴田真利坂田敏樹SCK)・赤塚和久松下雄大SSS)・山田浩輝森 耕司SCK)・豊島隆寛坂野頼人熊谷央一津野地賢一高橋昌幸SSS
抄録 (和) 本稿では,単一光子アバランシェダイオード直接Time-of-Flight (ToF) センサとLight Detection and Ranging (LiDAR) 技術について報告する.画素下差分比較器による読み出し方法と閾値制御により,距離Accuracyと反射率情報の取得のどちらを優先するかを選択可能とした.3 GHzの等価時間サンプリングにより距離Accuracyを改善した.さらに,250 MHz の再サンプリングと距離情報抽出パイプラインにより,距離Accuracyを維持しながら動作周波数が緩和され,データサイズを約 98 % 削減した.本センサは,水平視野120度,20 fps動作時に520個の有効マクロ画素を用いて0.05度の角度分解能の距離測定を実現し,2500万点/秒 (pts/s) の測距データと,250 mにおいて25 cmの物体検出を達成した. 
(英) This paper presents technologies at Single Photon Avalanche Diode (SPAD) direct Time-of-flight (ToF) depth sensor and Light Detection And Ranging (LiDAR). Method of readout by under-pixel differential comparator and the threshold control can select either to prioritize distance accuracy or acquisition of reflectance information. The equivalent time sampling (ETS) at 3 GHz improves depth accuracy. Furthermore, subsequent 250MHz re-sampling and the depth information extraction pipeline relaxes the operation frequency maintaining the depth accuracy and approximately 98% data size reduction. Sensor delivers distance measurement for 520 effective macro pixels with 0.05° angular resolution at 120° horizontal Field of View (FoV) and 20fps, resulting in 25M points/s (pts/s) ranging data and detection of 25cm object at 250m.
キーワード (和) 3D測距 / 直接ToF / SPAD / ポイントレート / 車載 / LiDAR / /  
(英) 3D ranging systems / Direct ToF / SPAD / Point rate / Automotive / LiDAR / /  
文献情報 映情学技報, vol. 50, no. 14, IST2026-26, pp. 74-78, 2026年3月.
資料番号 IST2026-26 
発行日 2026-03-20 (IST) 
ISSN Online edition: ISSN 2424-1970
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研究会情報
研究会 IST  
開催期間 2026-03-27 - 2026-03-27 
開催地(和) 機械振興会館 
開催地(英) Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. 
テーマ(和) 固体撮像技術および一般 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 IST 
会議コード 2026-03-IST 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) A 25M points/s Back-Illuminated Stacked SPAD Direct Time-of-Flight Depth Sensor with Equivalent Time Sampling and Pixel-Level Threshold Control for Automotive LiDAR 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) A 25M points/s Back-Illuminated Stacked SPAD Direct Time-of-Flight Depth Sensor with Equivalent Time Sampling and Pixel-Level Threshold Control for Automotive LiDAR 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 3D測距 / 3D ranging systems  
キーワード(2)(和/英) 直接ToF / Direct ToF  
キーワード(3)(和/英) SPAD / SPAD  
キーワード(4)(和/英) ポイントレート / Point rate  
キーワード(5)(和/英) 車載 / Automotive  
キーワード(6)(和/英) LiDAR / LiDAR  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 半澤 克彦 / Katsuhiko Hanzawa / ハンザワ カツヒコ
第1著者 所属(和/英) ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 (略称: SSS)
Sony Semiconductor Solutions (略称: SSS)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 由井 達哉 / Tatsuya Yui / ユイ タツヤ
第2著者 所属(和/英) ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 (略称: SSS)
Sony Semiconductor Solutions (略称: SSS)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 細谷 昌宏 / Masahiro Hosoya / ホソヤ マサヒロ
第3著者 所属(和/英) ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 (略称: SSS)
Sony Semiconductor Solutions (略称: SSS)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 劉 玉清 / Yuqing Liu / リュウ ギョクセイ
第4著者 所属(和/英) ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 (略称: SSS)
Sony Semiconductor Solutions (略称: SSS)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 安福 正 / Tadashi Yasufuku / ヤスフク タダシ
第5著者 所属(和/英) ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 (略称: SSS)
Sony Semiconductor Solutions (略称: SSS)
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) 田中 義則 / Yoshinori Tanaka / タナカ ヨシノリ
第6著者 所属(和/英) ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 (略称: SSS)
Sony Semiconductor Solutions (略称: SSS)
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) 田代 睦聡 / Yoshiaki Tashiro / タシロ ヨシアキ
第7著者 所属(和/英) ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 (略称: SSS)
Sony Semiconductor Solutions (略称: SSS)
第8著者 氏名(和/英/ヨミ) トゥメウ アルバート / Albert Tumewu / トゥメウ アルバート
第8著者 所属(和/英) ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 (略称: SSS)
Sony Semiconductor Solutions (略称: SSS)
第9著者 氏名(和/英/ヨミ) 山根 正孝 / Masataka Yamane / ヤマネ マサタカ
第9著者 所属(和/英) ソニーセミコンダクタマニュファクチャリング株式会社 (略称: SCK)
Sony Semiconductor Manufacturing (略称: SCK)
第10著者 氏名(和/英/ヨミ) 柴田 真利 / Masatoshi Shibata / シバタ マサトシ
第10著者 所属(和/英) ソニーセミコンダクタマニュファクチャリング株式会社 (略称: SCK)
Sony Semiconductor Manufacturing (略称: SCK)
第11著者 氏名(和/英/ヨミ) 坂田 敏樹 / Toshiki Sakada / サカタ トシキ
第11著者 所属(和/英) ソニーセミコンダクタマニュファクチャリング株式会社 (略称: SCK)
Sony Semiconductor Manufacturing (略称: SCK)
第12著者 氏名(和/英/ヨミ) 赤塚 和久 / Kazuhisa Akatsuka / アカツカ カズヒサ
第12著者 所属(和/英) ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 (略称: SSS)
Sony Semiconductor Solutions (略称: SSS)
第13著者 氏名(和/英/ヨミ) 松下 雄大 / Yudai Matsushita / マツシタ ユウダイ
第13著者 所属(和/英) ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 (略称: SSS)
Sony Semiconductor Solutions (略称: SSS)
第14著者 氏名(和/英/ヨミ) 山田 浩輝 / Koki Yamada / ヤマダ コウキ
第14著者 所属(和/英) ソニーセミコンダクタマニュファクチャリング株式会社 (略称: SCK)
Sony Semiconductor Manufacturing (略称: SCK)
第15著者 氏名(和/英/ヨミ) 森 耕司 / Kouji Mori / モリ コウジ
第15著者 所属(和/英) ソニーセミコンダクタマニュファクチャリング株式会社 (略称: SCK)
Sony Semiconductor Manufacturing (略称: SCK)
第16著者 氏名(和/英/ヨミ) 豊島 隆寛 / Takahiro Toyoshima / トヨシマ タカヒロ
第16著者 所属(和/英) ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 (略称: SSS)
Sony Semiconductor Solutions (略称: SSS)
第17著者 氏名(和/英/ヨミ) 坂野 頼人 / Yorito Sakano / サカノ ヨリト
第17著者 所属(和/英) ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 (略称: SSS)
Sony Semiconductor Solutions (略称: SSS)
第18著者 氏名(和/英/ヨミ) 熊谷 央一 / Oichi Kumagai / クマガイ オウイチ
第18著者 所属(和/英) ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 (略称: SSS)
Sony Semiconductor Solutions (略称: SSS)
第19著者 氏名(和/英/ヨミ) 津野地 賢一 / Kenichi Tsunoji / ツノジ ケンイチ
第19著者 所属(和/英) ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 (略称: SSS)
Sony Semiconductor Solutions (略称: SSS)
第20著者 氏名(和/英/ヨミ) 高橋 昌幸 / Masayuki Takahashi / タカハシ マサユキ
第20著者 所属(和/英) ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 (略称: SSS)
Sony Semiconductor Solutions (略称: SSS)
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講演者 第1著者 
発表日時 2026-03-27 15:55:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 IST 
資料番号 IST2026-26 
巻番号(vol) vol.50 
号番号(no) no.14 
ページ範囲 pp.74-78 
ページ数
発行日 2026-03-20 (IST) 


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