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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
IST 2011-11-18
15:50
東京 機械振興会館 [招待講演]原子レベル平坦化Si表面を用いた紫外光高感度・高信頼性フォトダイオード
黒田理人中澤泰希幸田安真半澤克彦須川成利東北大
紫外光に対する高い感度と,紫外光照射に対して高い安定性・長期信頼性を有する,原子レベル平坦化Si表面を用いたフォトダイオ... [more] IST2011-74
pp.25-31
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