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講演抄録/キーワード
講演名 2009-09-28 13:00
CMOSセンサにおけるトランスファゲート負バイアス印加時の暗電流解析
山下浩史前田基宏古屋晶吾矢神貴規東芝
抄録 (和) (まだ登録されていません) 
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文献情報 映情学技報, vol. 33, no. 38, IST2009-46, pp. 1-4, 2009年9月.
資料番号 IST2009-46 
発行日 2009-09-21 (IST) 
ISSN Print edition: ISSN 1342-6893
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研究会情報
研究会 IST  
開催期間 2009-09-28 - 2009-09-28 
開催地(和) 機械振興会館 
開催地(英) Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. 
テーマ(和) 携帯電話用カメラ,デジタルスチルカメラ,ビデオカメラ(ハイビジョン)とそのためのイメージセンサ,モジュール 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 IST 
会議コード 2009-09-IST 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) CMOSセンサにおけるトランスファゲート負バイアス印加時の暗電流解析 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Analysis of Dark Current in 4-Transistor CMOS Imager Pixel with Negative Transfer-gate bias Operation 
サブタイトル(英)  
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第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 山下 浩史 / Hirofumi Yamashita / ヤマシタ ヒロフミ
第1著者 所属(和/英) ?東芝 セミコンダクター社 イメージセンサー技術部 (略称: 東芝)
Imaging Device Marketing & Engineering Development Group, Toshiba Corporation (略称: Toshiba)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 前田 基宏 / Motohiro Maeda / マエダ モトヒロ
第2著者 所属(和/英) ?東芝 セミコンダクター社 イメージセンサー技術部 (略称: 東芝)
Imaging Device Marketing & Engineering Development Group, Toshiba Corporation (略称: Toshiba)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 古屋 晶吾 / Shogo Furuya / フルヤ ショウゴ
第3著者 所属(和/英) ?東芝 セミコンダクター社 イメージセンサー技術部 (略称: 東芝)
Imaging Device Marketing & Engineering Development Group, Toshiba Corporation (略称: Toshiba)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 矢神 貴規 / Takanori Yagami /
第4著者 所属(和/英) ?東芝 セミコンダクター社 イメージセンサー技術部 (略称: 東芝)
Imaging Device Marketing & Engineering Development Group, Toshiba Corporation (略称: Toshiba)
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講演者 第1著者 
発表日時 2009-09-28 13:00:00 
発表時間 30分 
申込先研究会 IST 
資料番号 IST2009-46 
巻番号(vol) vol.33 
号番号(no) no.38 
ページ範囲 pp.1-4 
ページ数
発行日 2009-09-21 (IST) 


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