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講演抄録/キーワード
講演名 2010-09-27 16:00
65nm CMOSプロセスを用いた偏光計測イメージセンサの性能向上
宍戸三四郎野田俊彦笹川清隆徳田 崇太田 淳奈良先端大
抄録 (和) (まだ登録されていません) 
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文献情報 映情学技報, vol. 34, no. 38, IST2010-46, pp. 25-28, 2010年9月.
資料番号 IST2010-46 
発行日 2010-09-20 (IST) 
ISSN Print edition: ISSN 1342-6893  Online edition: ISSN 2424-1970
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研究会情報
研究会 IST  
開催期間 2010-09-27 - 2010-09-27 
開催地(和) 機械振興会館 
開催地(英) Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. 
テーマ(和) 特別企画「CCD誕生40周年記念講演-黎明期-」 携帯電話用カメラ,デジタルスチルカメラ,ビデオカメラ(ハイビジョン)とそのためのイメージセンサ,モジュール 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 IST 
会議コード 2010-09-IST 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 65nm CMOSプロセスを用いた偏光計測イメージセンサの性能向上 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Performance Improvements of Polarization-Analyzing Image Sensor using 65nm CMOS process 
サブタイトル(英)  
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第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 宍戸 三四郎 / Sanshiro Shishido / シシド サンシロウ
第1著者 所属(和/英) 奈良先端科学技術大学院大学 (略称: 奈良先端大)
NARA INSTITUTE of SCIENCE and TECHNOLOGY (略称: NAIST)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 野田 俊彦 / Toshihiko Noda / ノダ トシヒコ
第2著者 所属(和/英) 奈良先端科学技術大学院大学 (略称: 奈良先端大)
NARA INSTITUTE of SCIENCE and TECHNOLOGY (略称: NAIST)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 笹川 清隆 / Kiyotaka Sasagawa / ササガワ キヨタカ
第3著者 所属(和/英) 奈良先端科学技術大学院大学 (略称: 奈良先端大)
NARA INSTITUTE of SCIENCE and TECHNOLOGY (略称: NAIST)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 徳田 崇 / Takashi Tokuda / トクダ タカシ
第4著者 所属(和/英) 奈良先端科学技術大学院大学 (略称: 奈良先端大)
NARA INSTITUTE of SCIENCE and TECHNOLOGY (略称: NAIST)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 太田 淳 / Jun Ohta /
第5著者 所属(和/英) 奈良先端科学技術大学院大学 (略称: 奈良先端大)
NARA INSTITUTE of SCIENCE and TECHNOLOGY (略称: NAIST)
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講演者
発表日時 2010-09-27 16:00:00 
発表時間 30 
申込先研究会 IST 
資料番号 ITE-IST2010-46 
巻番号(vol) ITE-34 
号番号(no) no.38 
ページ範囲 pp.25-28 
ページ数 ITE-4 
発行日 ITE-IST-2010-09-20 


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