| 講演抄録／キーワード |
| 講演名 |
2011-05-27 13:00
［ポスター講演］偏光分析CMOSイメージセンサの高精度化とin situ不斉計測への応用
○松岡 均・野田俊彦・笹川清隆・徳田 崇・寺尾公維・西山靖浩・垣内喜代三・太田 淳（奈良先端大） |
| 抄録 |
（和） |
我々はマイクロリアクタへの偏光分析CMOSイメージセンサの導入を提案している．CMOSプロセスの金属配線層を利用したオンチップ偏光子を搭載したイメージセンサにおいて，さらなる高精度な偏光計測を実現するため9組相当分の偏光計測画素アレイを有するセンサを開発し，約1桁のノイズレベル低減を達成した．またこのセンサをコアとする流路挿入型の不斉計測系を構築し，混合比の異なるメントール溶液を用いてin situでの偏光角計測に成功した． |
| （英） |
Perfomance of polarization-analyzing CMOS image sensor was improved by using multiple polarization-analyzing pixel array sets. The accuracy of polarization analysis was improved to $\sigma$=0.0061deg. Using the present CMOS sensor，real-time chiral analysis of menthol solution was successfully measured. |
| キーワード |
（和） |
マイクロリアクタ / CMOSイメージセンサ / 偏光計測 / 光学活性体 / オンチップ偏光子 / / / |
| （英） |
Microreactor / CMOS image sensor / Polarization analyzing / optical activity / on-chip polarizer / / / |
| 文献情報 |
映情学技報, vol. 35, no. 19, IST2011-22, pp. 21-24, 2011年5月. |
| 資料番号 |
IST2011-22 |
| 発行日 |
2011-05-20 (IST) |
| ISSN |
Print edition: ISSN 1342-6893 |
| PDFダウンロード |
|