| 研究会情報 |
| 研究会 |
IST IEICE-ICD |
| 開催期間 |
2011-07-21 - 2011-07-22 |
| 開催地（和） |
広島工業大学 |
| 開催地（英） |
Hiroshima Institute of Technology |
| テーマ（和） |
アナログ、アナデジ混載、RF及びセンサインタフェース回路 |
| テーマ（英） |
Analog, Mixed analog and digital, RF, and sensor interface circuitry |
| 講演論文情報の詳細 |
| 申込み研究会 |
IEICE-ICD |
| 会議コード |
2011-07-ICD-IST |
| 本文の言語 |
日本語 |
| タイトル（和） |
リング型バッファチェインとリングオシレータの共有構造を用いた完全デジタル型PMOS/NMOSプロセスばらつきモニタ回路 |
| サブタイトル（和） |
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| タイトル（英） |
An All-Digital On-Chip PMOS and NMOS Process Variability Monitor Utilizing Shared Buffer Ring and Ring Oscillator |
| サブタイトル（英） |
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| キーワード(1)（和/英） |
プロセスばらつき / process variability |
| キーワード(2)（和/英） |
オンチップモニタ / on-chip monitor |
| キーワード(3)（和/英） |
リング型バッファチェイン / buffer ring |
| キーワード(4)（和/英） |
完全デジタル型 / all digital |
| キーワード(5)（和/英） |
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| キーワード(6)（和/英） |
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| キーワード(7)（和/英） |
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| キーワード(8)（和/英） |
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| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） |
飯塚 哲也 / Tetsuya Iizuka / イイヅカ テツヤ |
| 第1著者 所属（和/英） |
東京大学 (略称： 東大)
University of Tokyo (略称： Univ. of Tokyo) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） |
浅田 邦博 / Kunihiro Asada / アサダ クニヒロ |
| 第2著者 所属（和/英） |
東京大学 (略称： 東大)
University of Tokyo (略称： Univ. of Tokyo) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第3著者 所属（和/英） |
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| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第5著者 所属（和/英） |
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| 第6著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第7著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第8著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第9著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第10著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第11著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第12著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第13著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第14著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第15著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第16著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第17著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第19著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第19著者 所属（和/英） |
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| 第20著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第20著者 所属（和/英） |
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| 講演者 |
第1著者 |
| 発表日時 |
2011-07-22 09:25:00 |
| 発表時間 |
25分 |
| 申込先研究会 |
IEICE-ICD |
| 資料番号 |
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| 巻番号（vol） |
vol.35 |
| 号番号（no） |
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| ページ範囲 |
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| ページ数 |
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| 発行日 |
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