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講演抄録/キーワード
講演名 2011-11-17 15:00
C-OFDRによる後方散乱統計解析を用いた狭線幅レーザのコヒーレンス評価
井上雅晶ファン シンユウ古敷谷優介伊藤文彦NTT
抄録 (和) (事前公開アブストラクト) 光干渉計測やコヒーレント光通信において,レーザのコヒーレンスはその性能を決定する要因であり正確に把握することは重要である.遅延時間を付与したレーザ電界とレーザ電界とのビート幅からレーザ線幅を推定する自己遅延ヘテロダイン法が知られているが十分な遅延量が必要なことにより測定結果にあいまいさを含む.今回,レイリー散乱光強度の統計解析からコヒーレンス関数を計測する方法を検討したので報告する. 
(英) (Advance abstract in Japanese is available)
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文献情報 映情学技報
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研究会情報
研究会 IEICE-OCS IEICE-OFT BCT IEE-CMN  
開催期間 2011-11-17 - 2011-11-18 
開催地(和) 島根大学 
開催地(英) Shimane Univ. 
テーマ(和) 光アクセスシステム・次世代PON、地上・衛星放送システム、衛星通信システム、CATVシステム、イーサネット、伝送監視制御、光ファイバケーブル・コード、通信用光ファイバ、光線路保守監視・試験技術、光ファイバ測定技術、地上・衛星放送関連デバイス・機器・設備、家庭用受信デバイス・機器、ホーリーファイバ、機能性光ファイバ、光ファイバ線路構成部品、光回路部品、周波数有効利用技術、変復調技術、電磁界解析およびシミュレーション技術、無線・光伝送境界領域、光ケーブル布設技術、光ファイバ線路設計技術、光ファイバ線路構成部品信頼性、空間・可視光伝送、一般 
テーマ(英) Optical access system/next gen. PON/optical monitoring/optical fiber/wireless system/etc. 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 IEICE-OFT 
会議コード 2011-11-OCS-OFT-BCT-CMN 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) C-OFDRによる後方散乱統計解析を用いた狭線幅レーザのコヒーレンス評価 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Coherence characterization of narrow-linewidth laser by backscatter statistical analysis with C-OFDR 
サブタイトル(英)  
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第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 井上 雅晶 / Masaaki Inoue / イノウエ マサアキ
第1著者 所属(和/英) 日本電信電話株式会社 (略称: NTT)
NIPPON TELEGRAPH AND TELEPHONE CORPORATION (略称: NTT)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) ファン シンユウ / Xinyu Fan / ファン シンユウ
第2著者 所属(和/英) 日本電信電話株式会社 (略称: NTT)
NIPPON TELEGRAPH AND TELEPHONE CORPORATION (略称: NTT)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 古敷谷 優介 / Yusuke Koshikiya / コシキヤ ユウスケ
第3著者 所属(和/英) 日本電信電話株式会社 (略称: NTT)
NIPPON TELEGRAPH AND TELEPHONE CORPORATION (略称: NTT)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 伊藤 文彦 / Fumihiko Ito / イトウ フミヒコ
第4著者 所属(和/英) 日本電信電話株式会社 (略称: NTT)
NIPPON TELEGRAPH AND TELEPHONE CORPORATION (略称: NTT)
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講演者 第1著者 
発表日時 2011-11-17 15:00:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 IEICE-OFT 
資料番号  
巻番号(vol) vol.35 
号番号(no)  
ページ範囲  
ページ数  
発行日  


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