| 講演抄録／キーワード |
| 講演名 |
2016-02-18 13:50
OFDMシステムにおけるインパルス雑音の影響軽減法
○安井宏友・中村 聡・伊丹 誠（東京理科大） |
| 抄録 |
（和） |
OFDMシステムの特性劣化の要因の1つにインパルス雑音が挙げられる．インパルス雑音は時間幅が短く振幅が非常に大きい雑音のため，OFDMのすべての搬送波に影響が及んでしまう．したがって，受信機においてインパルス雑音の影響を軽減する必要がある．軽減方式の中には，時間サンプルの再生成を行い，インパルス雑音が加わった時間サンプルと入れ替えることによって，影響を軽減する方式が提案されている．しかし，この方式は64QAMなどの高次変調方式では信号点間隔が密になり特性が劣化してしまう．本稿では，時間サンプル入れ替え方式の問題を解決し，受信特性の向上を実現する． |
| （英） |
In OFDM system, one of the main problems is impulsive noise. All sub-carriers of OFDM symbol are influenced by the impulsive noise because it has very large magnitude and short time duration. Therefore, it is necessary to reduce the influence of the impulsive noise in the receiver. In the mitigation scheme, purpose of time sample replacement scheme is to replace the sample influenced by impulsive noise with re-generated sample. However, the performance of this scheme is degraded in higher order modulation such as 64QAM. In this paper, proposed scheme can achieve more BER performance than the conventional schemes. |
| キーワード |
（和） |
OFDM / インパルス雑音 / 時間サンプル入れ替え / / / / / |
| （英） |
OFDM / Impulsive Noise / Time Sample Replacement / / / / / |
| 文献情報 |
映情学技報, vol. 40, no. 4, BCT2016-17, pp. 1-4, 2016年2月. |
| 資料番号 |
BCT2016-17 |
| 発行日 |
2016-02-11 (BCT) |
| ISSN |
Print edition: ISSN 1342-6893 Online edition: ISSN 2424-1970 |
| PDFダウンロード |
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| 研究会情報 |
| 研究会 |
BCT IEEE-BT |
| 開催期間 |
2016-02-18 - 2016-02-19 |
| 開催地（和） |
かんぽの宿 小樽 |
| 開催地（英） |
Kanpo-No-Yado (Otaru) |
| テーマ（和） |
学生若手発表および一般 |
| テーマ（英） |
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| 講演論文情報の詳細 |
| 申込み研究会 |
BCT |
| 会議コード |
2016-02-BCT |
| 本文の言語 |
日本語 |
| タイトル（和） |
OFDMシステムにおけるインパルス雑音の影響軽減法 |
| サブタイトル（和） |
|
| タイトル（英） |
Reducing Influence of Impulsive Noise in OFDM Systems |
| サブタイトル（英） |
|
| キーワード(1)（和/英） |
OFDM / OFDM |
| キーワード(2)（和/英） |
インパルス雑音 / Impulsive Noise |
| キーワード(3)（和/英） |
時間サンプル入れ替え / Time Sample Replacement |
| キーワード(4)（和/英） |
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| キーワード(5)（和/英） |
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| キーワード(6)（和/英） |
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| キーワード(7)（和/英） |
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| キーワード(8)（和/英） |
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| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） |
安井 宏友 / Hirotomo Yasui / ヤスイ ヒロトモ |
| 第1著者 所属（和/英） |
東京理科大学 (略称： 東京理科大)
Tokyo University of Science (略称： TUS) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） |
中村 聡 / Akira Nakamura / ナカムラ アキラ |
| 第2著者 所属（和/英） |
東京理科大学 (略称： 東京理科大)
Tokyo University of Science (略称： TUS) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） |
伊丹 誠 / Makoto Itami / イタミ マコト |
| 第3著者 所属（和/英） |
東京理科大学 (略称： 東京理科大)
Tokyo University of Science (略称： TUS) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第36著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 講演者 |
第1著者 |
| 発表日時 |
2016-02-18 13:50:00 |
| 発表時間 |
20分 |
| 申込先研究会 |
BCT |
| 資料番号 |
BCT2016-17 |
| 巻番号（vol） |
vol.40 |
| 号番号（no） |
no.4 |
| ページ範囲 |
pp.1-4 |
| ページ数 |
4 |
| 発行日 |
2016-02-11 (BCT) |