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講演抄録/キーワード
講演名 2016-08-02 09:00
[招待講演]超低電圧SRAMのソフトエラー耐性
橋本昌宜阪大
抄録 (和) 本報告では、SRAMのソフトエラー耐性について議論する。特に、ニアスレッショルド回路やサブスレッショルド回路が対象とする超低電圧に注目する。地上の環境では高エネルギー中性子がソフトエラーの主要因であり、加速器を用いた照射実験によって得られた高エネルギー中性子起因SERを紹介する。65nm バルクトランジスタを用いたSRAM、ならびにFD-SOIの一種であるSOTB (silicon on thin buried oxide)トランジスタを用いた65nm SRAMの測定結果を示し、それぞれのMCU (multiple cell upset)の発生原因を議論する。 
(英) This paper discusses soft error immunity of near-threshold/subthreshold SRAM. In terrestrial environment, high-energy neutron is the major soft error source, and neutron-induced soft error rates measured using an accelerator are presented. We show measurement results for 65nm bulk SRAM and 65nm SOTB (silicon on thin buried oxide) SRAM, where SOTB is a kind of FD-SOI. Also, the mechanisms of MCU (multiple cell upset) are discussed.
キーワード (和) SRAM / ソフトエラー / 中性子 / ソフトラーレート / FD-SOI / ニアスレッショルド回路 / サブスレッショルド回路 /  
(英) SRAM / soft error / neutron / soft error rate / FD-SOI / near-threshold circuit / subthreshold circuit /  
文献情報 映情学技報
資料番号  
発行日  
ISSN Print edition: ISSN 1342-6893  Online edition: ISSN 2424-1970
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研究会情報
研究会 IEICE-ICD IEICE-SDM IST  
開催期間 2016-08-01 - 2016-08-03 
開催地(和) 中央電気倶楽部 
開催地(英) Central Electric Club 
テーマ(和) アナログ、アナデジ混載、RF及びセンサインタフェース回路、低電圧/低消費電力技術、新デバイス・回路とその応用 
テーマ(英) Analog, Mixed Analog and Digital, RF, and Sensor Interface, Low voltage/low power techniques, novel devices, circuits, and applications 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 IEICE-ICD 
会議コード 2016-08-ICD-SDM-IST 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 超低電圧SRAMのソフトエラー耐性 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Soft Error Immunity of Ultra-Low Voltage SRAM 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) SRAM / SRAM  
キーワード(2)(和/英) ソフトエラー / soft error  
キーワード(3)(和/英) 中性子 / neutron  
キーワード(4)(和/英) ソフトラーレート / soft error rate  
キーワード(5)(和/英) FD-SOI / FD-SOI  
キーワード(6)(和/英) ニアスレッショルド回路 / near-threshold circuit  
キーワード(7)(和/英) サブスレッショルド回路 / subthreshold circuit  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 橋本 昌宜 / Masanori Hashimoto / ハシモト マサノリ
第1著者 所属(和/英) 大阪大学 (略称: 阪大)
Osaka University (略称: Osaka Univ.)
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講演者
発表日時 2016-08-02 09:00:00 
発表時間 45 
申込先研究会 IEICE-ICD 
資料番号  
巻番号(vol) ITE-40 
号番号(no)  
ページ範囲  
ページ数 ITE- 
発行日  


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