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講演抄録/キーワード
講演名 2016-08-03 09:45
[招待講演]ReRAM固有の抵抗ばらつきを利用した40nm混載メモリ向け高信頼性PUF開発
吉本裕平加藤佳一小笠原 悟魏 志強河野和幸PSCS
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文献情報 映情学技報
資料番号  
発行日  
ISSN Print edition: ISSN 1342-6893  Online edition: ISSN 2424-1970
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研究会情報
研究会 IEICE-ICD IEICE-SDM IST  
開催期間 2016-08-01 - 2016-08-03 
開催地(和) 中央電気倶楽部 
開催地(英) Central Electric Club 
テーマ(和) アナログ、アナデジ混載、RF及びセンサインタフェース回路、低電圧/低消費電力技術、新デバイス・回路とその応用 
テーマ(英) Analog, Mixed Analog and Digital, RF, and Sensor Interface, Low voltage/low power techniques, novel devices, circuits, and applications 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 IEICE-SDM 
会議コード 2016-08-ICD-SDM-IST 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) ReRAM固有の抵抗ばらつきを利用した40nm混載メモリ向け高信頼性PUF開発 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) A ReRAM-based Physically Unclonable Function with Bit Error Rate < 0.5% after 10 years at 125°C for 40nm embedded application 
サブタイトル(英)  
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第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 吉本 裕平 / Yuhei Yoshimoto / ヨシモト ユウヘイ
第1著者 所属(和/英) パナソニックセミコンダクターソリューションズ株式会社 (略称: PSCS)
Panasonic Semiconductor Solutions Corporation (略称: Panasonic Semiconductor Solutions Co., Ltd.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 加藤 佳一 / Yoshikazu Katoh / カトウ ヨシカズ
第2著者 所属(和/英) パナソニックセミコンダクターソリューションズ株式会社 (略称: PSCS)
Panasonic Semiconductor Solutions Corporation (略称: Panasonic Semiconductor Solutions Co., Ltd.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 小笠原 悟 / Satoru Ogasahara / オガサハラ サトル
第3著者 所属(和/英) パナソニックセミコンダクターソリューションズ株式会社 (略称: PSCS)
Panasonic Semiconductor Solutions Corporation (略称: Panasonic Semiconductor Solutions Co., Ltd.)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 魏 志強 / Zhiqiang Wei / ウェイ シキョウ
第4著者 所属(和/英) パナソニックセミコンダクターソリューションズ株式会社 (略称: PSCS)
Panasonic Semiconductor Solutions Corporation (略称: Panasonic Semiconductor Solutions Co., Ltd.)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 河野 和幸 / Kazuyuki Kouno / コウノ カズユキ
第5著者 所属(和/英) パナソニックセミコンダクターソリューションズ株式会社 (略称: PSCS)
Panasonic Semiconductor Solutions Corporation (略称: Panasonic Semiconductor Solutions Co., Ltd.)
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講演者
発表日時 2016-08-03 09:45:00 
発表時間 45 
申込先研究会 IEICE-SDM 
資料番号  
巻番号(vol) ITE-40 
号番号(no)  
ページ範囲  
ページ数 ITE- 
発行日  


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