| 研究会情報 |
| 研究会 |
IEICE-ICD IEICE-SDM IST |
| 開催期間 |
2016-08-01 - 2016-08-03 |
| 開催地（和） |
中央電気倶楽部 |
| 開催地（英） |
Central Electric Club |
| テーマ（和） |
アナログ、アナデジ混載、RF及びセンサインタフェース回路、低電圧/低消費電力技術、新デバイス・回路とその応用 |
| テーマ（英） |
Analog, Mixed Analog and Digital, RF, and Sensor Interface, Low voltage/low power techniques, novel devices, circuits, and applications |
| 講演論文情報の詳細 |
| 申込み研究会 |
IEICE-SDM |
| 会議コード |
2016-08-ICD-SDM-IST |
| 本文の言語 |
日本語 |
| タイトル（和） |
ReRAM固有の抵抗ばらつきを利用した40nm混載メモリ向け高信頼性PUF開発 |
| サブタイトル（和） |
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| タイトル（英） |
A ReRAM-based Physically Unclonable Function with Bit Error Rate < 0.5% after 10 years at 125°C for 40nm embedded application |
| サブタイトル（英） |
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| キーワード(1)（和/英） |
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| キーワード(2)（和/英） |
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| キーワード(3)（和/英） |
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| キーワード(4)（和/英） |
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| キーワード(5)（和/英） |
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| キーワード(6)（和/英） |
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| キーワード(7)（和/英） |
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| キーワード(8)（和/英） |
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| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） |
吉本 裕平 / Yuhei Yoshimoto / ヨシモト ユウヘイ |
| 第1著者 所属（和/英） |
パナソニックセミコンダクターソリューションズ株式会社 (略称： PSCS)
Panasonic Semiconductor Solutions Corporation (略称： Panasonic Semiconductor Solutions Co., Ltd.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） |
加藤 佳一 / Yoshikazu Katoh / カトウ ヨシカズ |
| 第2著者 所属（和/英） |
パナソニックセミコンダクターソリューションズ株式会社 (略称： PSCS)
Panasonic Semiconductor Solutions Corporation (略称： Panasonic Semiconductor Solutions Co., Ltd.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） |
小笠原 悟 / Satoru Ogasahara / オガサハラ サトル |
| 第3著者 所属（和/英） |
パナソニックセミコンダクターソリューションズ株式会社 (略称： PSCS)
Panasonic Semiconductor Solutions Corporation (略称： Panasonic Semiconductor Solutions Co., Ltd.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） |
魏 志強 / Zhiqiang Wei / ウェイ シキョウ |
| 第4著者 所属（和/英） |
パナソニックセミコンダクターソリューションズ株式会社 (略称： PSCS)
Panasonic Semiconductor Solutions Corporation (略称： Panasonic Semiconductor Solutions Co., Ltd.) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） |
河野 和幸 / Kazuyuki Kouno / コウノ カズユキ |
| 第5著者 所属（和/英） |
パナソニックセミコンダクターソリューションズ株式会社 (略称： PSCS)
Panasonic Semiconductor Solutions Corporation (略称： Panasonic Semiconductor Solutions Co., Ltd.) |
| 第6著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第6著者 所属（和/英） |
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| 第7著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第7著者 所属（和/英） |
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| 第8著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第8著者 所属（和/英） |
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| 第9著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第9著者 所属（和/英） |
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| 第10著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第10著者 所属（和/英） |
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| 第11著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第11著者 所属（和/英） |
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| 第12著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第12著者 所属（和/英） |
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| 第13著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第13著者 所属（和/英） |
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| 第14著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第14著者 所属（和/英） |
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| 第15著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第15著者 所属（和/英） |
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| 第16著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第16著者 所属（和/英） |
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| 第17著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第17著者 所属（和/英） |
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| 第18著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第18著者 所属（和/英） |
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| 第19著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第19著者 所属（和/英） |
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| 第20著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第20著者 所属（和/英） |
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| 講演者 |
第1著者 |
| 発表日時 |
2016-08-03 09:45:00 |
| 発表時間 |
45分 |
| 申込先研究会 |
IEICE-SDM |
| 資料番号 |
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| 巻番号（vol） |
vol.40 |
| 号番号（no） |
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| ページ範囲 |
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| ページ数 |
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| 発行日 |
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