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講演抄録／キーワード
講演名
2016-08-03 09:00
［招待講演］多結晶シリコンFinFETを用いたSRAM PUFとその性能評価
○
大内真一
・
柳 永勛
・
堀 洋平
・
入沢寿史
・
更田裕司
・
森田行則
・
右田真司
・
森 貴洋
・
中川 格
・
塚田順一
・
小池汎平
・
昌原明植
・
松川 貴
（
産総研
）
抄録
（和）
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（英）
(Not available yet)
キーワード
（和）
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（英）
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文献情報
映情学技報
資料番号
発行日
ISSN
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研究会情報
研究会
IEICE-ICD IEICE-SDM IST
開催期間
2016-08-01 - 2016-08-03
開催地（和）
中央電気倶楽部
開催地（英）
Central Electric Club
テーマ（和）
アナログ、アナデジ混載、RF及びセンサインタフェース回路、低電圧/低消費電力技術、新デバイス・回路とその応用
テーマ（英）
Analog, Mixed Analog and Digital, RF, and Sensor Interface, Low voltage/low power techniques, novel devices, circuits, and applications
講演論文情報の詳細
申込み研究会
IEICE-SDM
会議コード
2016-08-ICD-SDM-IST
本文の言語
日本語
タイトル（和）
多結晶シリコンFinFETを用いたSRAM PUFとその性能評価
サブタイトル（和）
タイトル（英）
SRAM PUF using Polycrystalline Silicon Channel FinFET and Its Evaluation
サブタイトル（英）
キーワード(1)（和/英）
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キーワード(2)（和/英）
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キーワード(3)（和/英）
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キーワード(4)（和/英）
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キーワード(5)（和/英）
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キーワード(6)（和/英）
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キーワード(7)（和/英）
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キーワード(8)（和/英）
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第1著者 氏名（和/英/ヨミ）
大内 真一
/
Shin-ichi O'uchi
/
オオウチ シンイチ
第1著者 所属（和/英）
産業技術総合研究所
(略称：
産総研
)
National Institute of AIST
(略称：
AIST
)
第2著者 氏名（和/英/ヨミ）
柳 永勛
/
Yungxun Liu
/
りゅう ゆうしゅん
第2著者 所属（和/英）
産業技術総合研究所
(略称：
産総研
)
National Institute of AIST
(略称：
AIST
)
第3著者 氏名（和/英/ヨミ）
堀 洋平
/
Yohei Hori
/
ホリ ヨウヘイ
第3著者 所属（和/英）
産業技術総合研究所
(略称：
産総研
)
National Institute of AIST
(略称：
AIST
)
第4著者 氏名（和/英/ヨミ）
入沢 寿史
/
Toshifumi Irisawa
/
イリサワ トシフミ
第4著者 所属（和/英）
産業技術総合研究所
(略称：
産総研
)
National Institute of AIST
(略称：
AIST
)
第5著者 氏名（和/英/ヨミ）
更田 裕司
/
Hiroshi Fuketa
/
フケタ ヒロシ
第5著者 所属（和/英）
産業技術総合研究所
(略称：
産総研
)
National Institute of AIST
(略称：
AIST
)
第6著者 氏名（和/英/ヨミ）
森田 行則
/
Yukinori Morita
/
モリタ ユキノリ
第6著者 所属（和/英）
産業技術総合研究所
(略称：
産総研
)
National Institute of AIST
(略称：
AIST
)
第7著者 氏名（和/英/ヨミ）
右田 真司
/
Shinji Migita
/
ミギタ シンジ
第7著者 所属（和/英）
産業技術総合研究所
(略称：
産総研
)
National Institute of AIST
(略称：
AIST
)
第8著者 氏名（和/英/ヨミ）
森 貴洋
/
Takahiro Mori
/
モリ タカヒロ
第8著者 所属（和/英）
産業技術総合研究所
(略称：
産総研
)
National Institute of AIST
(略称：
AIST
)
第9著者 氏名（和/英/ヨミ）
中川 格
/
Tadashi Nakagawa
/
ナカガワ タダシ
第9著者 所属（和/英）
産業技術総合研究所
(略称：
産総研
)
National Institute of AIST
(略称：
AIST
)
第10著者 氏名（和/英/ヨミ）
塚田 順一
/
Junichi Tsukada
/
ツカダ ジュンイチ
第10著者 所属（和/英）
産業技術総合研究所
(略称：
産総研
)
National Institute of AIST
(略称：
AIST
)
第11著者 氏名（和/英/ヨミ）
小池 汎平
/
Hanpei Koike
/
コイケ ハンペイ
第11著者 所属（和/英）
産業技術総合研究所
(略称：
産総研
)
National Institute of AIST
(略称：
AIST
)
第12著者 氏名（和/英/ヨミ）
昌原 明植
/
Meishoku Masahara
/
マサハラ メイショク
第12著者 所属（和/英）
産業技術総合研究所
(略称：
産総研
)
National Institute of AIST
(略称：
AIST
)
第13著者 氏名（和/英/ヨミ）
松川 貴
/
Takashi Matsukawa
/
マツカワ タカシ
第13著者 所属（和/英）
産業技術総合研究所
(略称：
産総研
)
National Institute of AIST
(略称：
AIST
)
第14著者 氏名（和/英/ヨミ）
/ /
第14著者 所属（和/英）
(略称： )
(略称： )
第15著者 氏名（和/英/ヨミ）
/ /
第15著者 所属（和/英）
(略称： )
(略称： )
第16著者 氏名（和/英/ヨミ）
/ /
第16著者 所属（和/英）
(略称： )
(略称： )
第17著者 氏名（和/英/ヨミ）
/ /
第17著者 所属（和/英）
(略称： )
(略称： )
第18著者 氏名（和/英/ヨミ）
/ /
第18著者 所属（和/英）
(略称： )
(略称： )
第19著者 氏名（和/英/ヨミ）
/ /
第19著者 所属（和/英）
(略称： )
(略称： )
第20著者 氏名（和/英/ヨミ）
/ /
第20著者 所属（和/英）
(略称： )
(略称： )
講演者
第1著者
発表日時
2016-08-03 09:00:00
発表時間
45分
申込先研究会
IEICE-SDM
資料番号
巻番号（vol）
vol.40
号番号（no）
ページ範囲
ページ数
発行日
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