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講演抄録/キーワード
講演名 2019-03-22 09:00
0.68e rms RandomNoise 121dB DynamicRange Sub pixel architecture CMOS Image Sensor with LED Flicker Mitigation
水野博之飯田聡子坂野頼人朝妻智彦SSS)・高見将史SCK)・葭葉一平大場宣幸岡 巧山口和哲鈴木敦史鈴木啓太山田 学舘下八州志大野圭一SSS
抄録 (和) 本稿では3µmセルピッチSub-Pixel構造を用いたCMOSイメージセンサ(CIS)について報告する。一度の露光で0.68e-rmsの低ランダムノイズと121dBの高ダイナミックレンジの両方を達成し、さらにLEDフリッカーの軽減を実現した。 
(英) This is a report of a CMOS image sensor with a sub-pixel architecture having a pixel pitch of 3 µm. The aforementioned sensor achieves both ultra-low random noise of 0.68e-rms and high dynamic range of 121 dB in a single exposure, further realizing LED flicker mitigation.
キーワード (和) CMOSイメージセンサ / ダイナミックレンジ / 低ノイズ / LFM / シングル露光 / / /  
(英) CMOS Image Sensor / Dynamic Rang / Low Noise / LED flicker Mitigation / Single Exposure / / /  
文献情報 映情学技報, vol. 43, no. 11, IST2019-12, pp. 1-6, 2019年3月.
資料番号 IST2019-12 
発行日 2019-03-15 (IST) 
ISSN Print edition: ISSN 1342-6893  Online edition: ISSN 2424-1970

研究会情報
研究会 IST  
開催期間 2019-03-22 - 2019-03-22 
開催地(和) 機械振興会館 
開催地(英) Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. 
テーマ(和) 固体撮像技術および一般 
テーマ(英) Image Sensors, etc. 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 IST 
会議コード 2019-03-IST 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 0.68e rms RandomNoise 121dB DynamicRange Sub pixel architecture CMOS Image Sensor with LED Flicker Mitigation 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) 0.68e rms RandomNoise 121dB DynamicRange Sub pixel architecture CMOS Image Sensor with LED Flicker Mitigation 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) CMOSイメージセンサ / CMOS Image Sensor  
キーワード(2)(和/英) ダイナミックレンジ / Dynamic Rang  
キーワード(3)(和/英) 低ノイズ / Low Noise  
キーワード(4)(和/英) LFM / LED flicker Mitigation  
キーワード(5)(和/英) シングル露光 / Single Exposure  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 水野 博之 / Mizuno Hiroyuki / ミズノ ヒロユキ
第1著者 所属(和/英) ソニーセミコンダクタソリューションズ㈱ (略称: SSS)
Sony Semiconductor Solutions Corp. (略称: SSS)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 飯田 聡子 / Satoko Iida / イイダ サトコ
第2著者 所属(和/英) ソニーセミコンダクタソリューションズ㈱ (略称: SSS)
SonySemiconductorSolutions (略称: SSS)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 坂野 頼人 / Yorito Sakano / サカノ ヨリト
第3著者 所属(和/英) ソニーセミコンダクタソリューションズ㈱ (略称: SSS)
SonySemiconductorSolutions (略称: SSS)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 朝妻 智彦 / Tomohiko Asatsuma / アサツマ トモヒコ
第4著者 所属(和/英) ソニーセミコンダクタソリューションズ㈱ (略称: SSS)
SonySemiconductorSolutions (略称: SSS)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 高見 将史 / Masashi Takami / タカミ マサシ
第5著者 所属(和/英) ソニーセミコンダクタマニュファクチャリング㈱ (略称: SCK)
SonySemiconductorManufacturing (略称: SCK)
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) 葭葉 一平 / Ippei Yoshiba / ヨシバ イッペイ
第6著者 所属(和/英) ソニーセミコンダクタソリューションズ㈱ (略称: SSS)
SonySemiconductorSolutions (略称: SSS)
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) 大場 宣幸 / Nobuyuki Ohba / オオバ ノブユキ
第7著者 所属(和/英) ソニーセミコンダクタソリューションズ㈱ (略称: SSS)
SonySemiconductorSolutions (略称: SSS)
第8著者 氏名(和/英/ヨミ) 岡 巧 / Takumi Oka / オカ タクミ
第8著者 所属(和/英) ソニーセミコンダクタソリューションズ㈱ (略称: SSS)
SonySemiconductorSolutions (略称: SSS)
第9著者 氏名(和/英/ヨミ) 山口 和哲 / Kazunori Yamaguchi / ヤマグチ カズノリ
第9著者 所属(和/英) ソニーセミコンダクタソリューションズ㈱ (略称: SSS)
SonySemiconductorSolutions (略称: SSS)
第10著者 氏名(和/英/ヨミ) 鈴木 敦史 / Atsushi Suzuki / スズキ アツシ
第10著者 所属(和/英) ソニーセミコンダクタソリューションズ㈱ (略称: SSS)
SonySemiconductorSolutions (略称: SSS)
第11著者 氏名(和/英/ヨミ) 鈴木 啓太 / Keita Suzuki / スズキ ケイタ
第11著者 所属(和/英) ソニーセミコンダクタソリューションズ㈱ (略称: SSS)
SonySemiconductorSolutions (略称: SSS)
第12著者 氏名(和/英/ヨミ) 山田 学 / Manabu Yamada / ヤマダ マナブ
第12著者 所属(和/英) ソニーセミコンダクタソリューションズ㈱ (略称: SSS)
SonySemiconductorSolutions (略称: SSS)
第13著者 氏名(和/英/ヨミ) 舘下 八州志 / Yasushi Tateshita / タテシタ ヤスシ
第13著者 所属(和/英) ソニーセミコンダクタソリューションズ㈱ (略称: SSS)
SonySemiconductorSolutions (略称: SSS)
第14著者 氏名(和/英/ヨミ) 大野 圭一 / Keiichi Ohno / オオノ ケイイチ
第14著者 所属(和/英) ソニーセミコンダクタソリューションズ㈱ (略称: SSS)
SonySemiconductorSolutions (略称: SSS)
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講演者
発表日時 2019-03-22 09:00:00 
発表時間 30 
申込先研究会 IST 
資料番号 ITE-IST2019-12 
巻番号(vol) ITE-43 
号番号(no) no.11 
ページ範囲 pp.1-6 
ページ数 ITE-6 
発行日 ITE-IST-2019-03-15 


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