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講演抄録／キーワード
講演名 2019-08-07 16:30
［招待講演］28nmスプリットゲートMONOS型フラッシュメモリを用いた高温動作かつ低エラー率を実現するPUF技術
○下井貴裕・斉藤朋也・長瀬寛和・伊豆名雅之・神田明彦・伊藤　孝・河野隆司（ルネサス エレクトロニクス）
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文献情報 映情学技報
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研究会情報
研究会 IEICE-SDM IEICE-ICD IST  
開催期間 2019-08-07 - 2019-08-09 
開催地（和） 北海道大学 情報科学院 3F A31 
開催地（英） Hokkaido Univ., Graduate School /Faculty of Information Science and 
テーマ（和） アナログ、アナデジ混載、RF及びセンサインタフェース回路、低電圧・低消費電力技術、新デバイス・回路とその応用 
テーマ（英） Analog, Mixed Analog and Digital, RF, and Sensor Interface, Low Voltage/Low Power Techniques, Novel Devices/Circuits, and the Applications 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 IEICE-SDM 
会議コード 2019-08-SDM-ICD-IST 
本文の言語 日本語 
タイトル（和） 28nmスプリットゲートMONOS型フラッシュメモリを用いた高温動作かつ低エラー率を実現するPUF技術 
サブタイトル（和）  
タイトル（英） High-temperature stable Physical Unclonable Functions with error-free readout scheme based on 28nm SGMONOS flash memory for security applications 
サブタイトル（英）  
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第1著者 氏名（和/英/ヨミ） 下井 貴裕 / Takahiro Shimoi / シモイ タカヒロ
第1著者 所属（和/英） ルネサスエレクトロニクス株式会社 (略称： ルネサス エレクトロニクス)
Renesas Electronics Corporation (略称： Renesas Electronics)
第2著者 氏名（和/英/ヨミ） 斉藤 朋也 / Tomoya Saito / サイトウ トモヤ
第2著者 所属（和/英） ルネサスエレクトロニクス株式会社 (略称： ルネサス エレクトロニクス)
Renesas Electronics Corporation (略称： Renesas Electronics)
第3著者 氏名（和/英/ヨミ） 長瀬 寛和 / Hirokazu Nagase / ナガセ ヒロカズ
第3著者 所属（和/英） ルネサスエレクトロニクス株式会社 (略称： ルネサス エレクトロニクス)
Renesas Electronics Corporation (略称： Renesas Electronics)
第4著者 氏名（和/英/ヨミ） 伊豆名 雅之 / Masayuki Izuna / イズナ マサユキ
第4著者 所属（和/英） ルネサスエレクトロニクス株式会社 (略称： ルネサス エレクトロニクス)
Renesas Electronics Corporation (略称： Renesas Electronics)
第5著者 氏名（和/英/ヨミ） 神田 明彦 / Akihiko Kanda / カンダ アキヒコ
第5著者 所属（和/英） ルネサスエレクトロニクス株式会社 (略称： ルネサス エレクトロニクス)
Renesas Electronics Corporation (略称： Renesas Electronics)
第6著者 氏名（和/英/ヨミ） 伊藤 孝 / Takashi Ito / イトウ タカシ
第6著者 所属（和/英） ルネサスエレクトロニクス株式会社 (略称： ルネサス エレクトロニクス)
Renesas Electronics Corporation (略称： Renesas Electronics)
第7著者 氏名（和/英/ヨミ） 河野 隆司 / Takashi Kono / コウノ タカシ
第7著者 所属（和/英） ルネサスエレクトロニクス株式会社 (略称： ルネサス エレクトロニクス)
Renesas Electronics Corporation (略称： Renesas Electronics)
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講演者 第1著者 
発表日時 2019-08-07 16:30:00 
発表時間 45分 
申込先研究会 IEICE-SDM 
資料番号  
巻番号（vol） vol.43 
号番号（no）  
ページ範囲  
ページ数  
発行日  

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