| 講演抄録／キーワード |
| 講演名 |
2026-08-24 13:45
高周波成分の選択的強調による微小欠陥検出のためのPaDiMの改良
○神谷悠斗・大田直輝・村上尚生・平松直人・秋月秀一・橋本 学（中京大） |
| 抄録 |
（和） |
現場正常画像のみを用いる異常検知手法であるPaDiMでは，面積の小さい欠陥はCNNによる特徴抽出過程において正常領域の特徴と混合され，欠陥特徴が十分に保持されないため，異常検知精度が低下するという課題がある．そこで本研究では，微小欠陥が高周波成分を多く含むことに着目し，背景テクスチャを抑制しながら欠陥に由来する高周波成分を選択的に強調する前処理を特徴抽出前に適用する．これにより，微小欠陥の特徴を保持したまま特徴抽出器へ入力し，異常検知精度の向上を図る．MVTec ADデータセットをもとに作成した微小欠陥データセットを用いた評価実験では，見逃し率（Image-FNR）が，直径7pixelの欠陥画像では，16.1%から8.4%へ低減し，7.7%の改善を確認した． |
| （英） |
PaDiM is an anomaly detection method that uses only normal images for training. However, small defects are mixed with normal features during CNN-based feature extraction because of their small size. As a result, defect features are not well preserved, and the detection accuracy decreases. In this study, we focus on the fact that micro-defects contain many high-frequency components. Before feature extraction, we apply a preprocessing method that enhances the high-frequency components of defects while reducing those of the background texture. This helps preserve defect features in the feature extractor and improves anomaly detection accuracy. Experiments on a micro-defect dataset based on the MVTec AD dataset showed that the false negative rate (Image-FNR) for defect images with a diameter of 7 pixels decreased from 16.1% to 8.4%, an improvement of 7.7%. |
| キーワード |
（和） |
外観検査 / 異常検知 / 微小欠陥 / PaDiM / / / / |
| （英） |
Visual inspection / Anomaly Detection / Micro-defect / PaDiM / / / / |
| 文献情報 |
映情学技報, vol. 50, pp. 9-12, 2026年8月. |
| 資料番号 |
|
| 発行日 |
2026-08-17 (ME) |
| ISSN |
Online edition: ISSN 2424-1970 |
| PDFダウンロード |
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| 研究会情報 |
| 研究会 |
ME JSPE-IAIP |
| 開催期間 |
2026-08-24 - 2026-08-25 |
| 開催地（和） |
福井市地域交流プラザ（AOSSA 6F） |
| 開催地（英） |
Nagoya Kasadera Hotel |
| テーマ（和） |
サマーセミナー2026 「交流・深化・開拓」 |
| テーマ（英） |
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| 講演論文情報の詳細 |
| 申込み研究会 |
JSPE-IAIP |
| 会議コード |
2026-08-ME-IAIP |
| 本文の言語 |
日本語 |
| タイトル（和） |
高周波成分の選択的強調による微小欠陥検出のためのPaDiMの改良 |
| サブタイトル（和） |
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| タイトル（英） |
Improving PaDiM for Micro-Defect Detection by Selective Enhancement of High-Frequency Components |
| サブタイトル（英） |
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| キーワード(1)（和/英） |
外観検査 / Visual inspection |
| キーワード(2)（和/英） |
異常検知 / Anomaly Detection |
| キーワード(3)（和/英） |
微小欠陥 / Micro-defect |
| キーワード(4)（和/英） |
PaDiM / PaDiM |
| キーワード(5)（和/英） |
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| キーワード(6)（和/英） |
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| キーワード(7)（和/英） |
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| キーワード(8)（和/英） |
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| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） |
神谷 悠斗 / Yuto Kamiya / カミヤ ユウト |
| 第1著者 所属（和/英） |
中京大学 (略称： 中京大)
Chykyo University (略称： Chykyo Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） |
大田 直輝 / Naoki Ota / オオタ ナオキ |
| 第2著者 所属（和/英） |
中京大学 (略称： 中京大)
Chykyo University (略称： Chykyo Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） |
村上 尚生 / Naoki Murakami / ムラカミ ナオキ |
| 第3著者 所属（和/英） |
中京大学 (略称： 中京大)
Chykyo University (略称： Chykyo Univ.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） |
平松 直人 / Naoto Hiramatsu / |
| 第4著者 所属（和/英） |
中京大学 (略称： 中京大)
Chykyo University (略称： Chykyo Univ.) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） |
秋月 秀一 / Shuichi Akizuki / アキヅキ シュウイチ |
| 第5著者 所属（和/英） |
中京大学 (略称： 中京大)
Chykyo University (略称： Chykyo Univ.) |
| 第6著者 氏名（和/英/ヨミ） |
橋本 学 / Manabu Hashimoto / ハシモト マナブ |
| 第6著者 所属（和/英） |
中京大学 (略称： 中京大)
Chykyo University (略称： Chykyo Univ.) |
| 第7著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 講演者 |
第1著者 |
| 発表日時 |
2026-08-24 13:45:00 |
| 発表時間 |
75分 |
| 申込先研究会 |
JSPE-IAIP |
| 資料番号 |
ME2026-57 |
| 巻番号（vol） |
vol.50 |
| 号番号（no） |
no.23 |
| ページ範囲 |
pp.9-12 |
| ページ数 |
4 |
| 発行日 |
2026-08-17 (ME) |