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講演抄録/キーワード
講演名 2022-03-28 15:40
高いPDEおよびTiming Jitter特性を有する積層型6μmSPAD距離センサー
島田翔平大竹悠介吉田 悟遠藤表徳中邑良一津川英信荻田知治小笠原隆行横地界斗井上裕士高林幸作前田英訓山本浩司大野 誠松本静徳樋山拓己若野寿史ソニー
抄録 (和) 本稿では、300mm CMOSプラットフォームにて試作された、裏面照射構造を有する高性能な積層型シングルフォトンアバランシェダイオード(SPAD)距離センサーについて報告する。今回の新しい6μm画素では、以前報告した我々の10μm画素と比較して、新規にピラミット型の回折(PSD)構造を近赤外の光子検出確率(PDE)を向上させるために導入をした。PSD構造により波長940nmで20%越えのPDEを達成しつつ、従来の10μm画素を超えるタイミングジッター特性のために、画素ポテンシャル設計の最適化も行った。さらに従来の10μm画素と同様に、CuCu接合により読み出し回路を積層することで、フィルファクタの最大化も実現している。この新しい6μm画素は、従来の10μm画素に比べて、より効率的かつ正確な直接Time of Flight(d-ToF)方式の測距へ貢献することが可能となる。 
(英) We present a high-performance Single Photon Avalanche Diode (SPAD) pixel array sensor with 3D-stacked Back Illumination (BI) fabricated via a 300mm CMOS process platform. In comparison to our 10μm pixel generation, the 6μm generation comes with several improvements. In particular, the top-tier pixel chip makes use of a Pyramid Surface for Diffraction (PSD) that boosts the Photon Detection Efficiency (PDE) in the near-infrared. Not only did we achieve a PDE of over 20% at 940nm with 3.0V excess bias, but via pixel potential re-engineering, we could also improve the timing jitter beyond our 10μm architecture. As in our previous SPAD sensor generation, the connection to the bottom-tier readout circuit chip is realized via Cu-Cu bonding to maximize the sensor’s fill factor. This new 6µm SPAD sensor paves the way to direct-Time of Flight (d-ToF) with even higher efficiency and accuracy than was previously possible.
キーワード (和) シングルフォトンアバランシェダイオード / SPAD距離センサー / 直接ToF / 積層型 / / / /  
(英) Single Photon Avalanche Diode / SPAD depth sensor / d-ToF / Back Illuminated / / / /  
文献情報 映情学技報, vol. 46, no. 14, IST2022-20, pp. 43-46, 2022年3月.
資料番号 IST2022-20 
発行日 2022-03-21 (IST) 
ISSN Print edition: ISSN 1342-6893    Online edition: ISSN 2424-1970
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研究会情報
研究会 IST  
開催期間 2022-03-28 - 2022-03-28 
開催地(和) オンライン開催 
開催地(英)  
テーマ(和) 固体撮像技術および一般 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 IST 
会議コード 2022-03-IST 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 高いPDEおよびTiming Jitter特性を有する積層型6μmSPAD距離センサー 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) A Back Illuminated 6 μm SPAD Pixel Array with High PDE and Timing Jitter Performance 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) シングルフォトンアバランシェダイオード / Single Photon Avalanche Diode  
キーワード(2)(和/英) SPAD距離センサー / SPAD depth sensor  
キーワード(3)(和/英) 直接ToF / d-ToF  
キーワード(4)(和/英) 積層型 / Back Illuminated  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 島田 翔平 / Shohei Shimada / シマダ ショウヘイ
第1著者 所属(和/英) ソニーセミコンダクタソリューションズ (略称: ソニー)
Sony Semiconductor Solutions (略称: Sony)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 大竹 悠介 / Yusuke Otake / オオタケ ユウスケ
第2著者 所属(和/英) ソニーセミコンダクタソリューションズ (略称: ソニー)
Sony Semiconductor Solutions (略称: Sony)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 吉田 悟 / Satoru Yoshida / ヨシダ サトル
第3著者 所属(和/英) ソニーセミコンダクタソリューションズ (略称: ソニー)
Sony Semiconductor Solutions (略称: Sony)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 遠藤 表徳 / Suzunori Endo / エンドウ スズノリ
第4著者 所属(和/英) ソニーセミコンダクタソリューションズ (略称: ソニー)
Sony Semiconductor Solutions (略称: Sony)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 中邑 良一 / Ryoichi Nakamura / ナカムラ リョウイチ
第5著者 所属(和/英) ソニーセミコンダクタソリューションズ (略称: ソニー)
Sony Semiconductor Solutions (略称: Sony)
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) 津川 英信 / Hidenobu Tsugawa / ツガワ ヒデノブ
第6著者 所属(和/英) ソニーセミコンダクタソリューションズ (略称: ソニー)
Sony Semiconductor Solutions (略称: Sony)
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) 荻田 知治 / Tomohiro Ogita / オギタ トモハル
第7著者 所属(和/英) ソニーセミコンダクタソリューションズ (略称: ソニー)
Sony Semiconductor Solutions (略称: Sony)
第8著者 氏名(和/英/ヨミ) 小笠原 隆行 / Takayuki Ogasahara / オガサハラ タカユキ
第8著者 所属(和/英) ソニーセミコンダクタソリューションズ (略称: ソニー)
Sony Semiconductor Solutions (略称: Sony)
第9著者 氏名(和/英/ヨミ) 横地 界斗 / Kaito Yokochi / ヨコチ カイト
第9著者 所属(和/英) ソニーセミコンダクタソリューションズ (略称: ソニー)
Sony Semiconductor Solutions (略称: Sony)
第10著者 氏名(和/英/ヨミ) 井上 裕士 / Yuji Inoue / イノウエ ユウジ
第10著者 所属(和/英) ソニーセミコンダクタマニュファクチャリング (略称: ソニー)
Sony Semiconductor Manufacturing (略称: Sony)
第11著者 氏名(和/英/ヨミ) 高林 幸作 / Kosaku Takabayashi / タカバヤシ コウサク
第11著者 所属(和/英) ソニーセミコンダクタマニュファクチャリング (略称: ソニー)
Sony Semiconductor Manufacturing (略称: Sony)
第12著者 氏名(和/英/ヨミ) 前田 英訓 / Hidenori Maeda / マエダ ヒデノリ
第12著者 所属(和/英) ソニーセミコンダクタマニュファクチャリング (略称: ソニー)
Sony Semiconductor Manufacturing (略称: Sony)
第13著者 氏名(和/英/ヨミ) 山本 浩司 / Koji Yamamoto / ヤマモト コウジ
第13著者 所属(和/英) ソニーセミコンダクタマニュファクチャリング (略称: ソニー)
Sony Semiconductor Manufacturing (略称: Sony)
第14著者 氏名(和/英/ヨミ) 大野 誠 / Makoto Ono / オオノ マコト
第14著者 所属(和/英) ソニーセミコンダクタマニュファクチャリング (略称: ソニー)
Sony Semiconductor Manufacturing (略称: Sony)
第15著者 氏名(和/英/ヨミ) 松本 静徳 / Shizunori Matsumoto / マツモト シズノリ
第15著者 所属(和/英) ソニーセミコンダクタマニュファクチャリング (略称: ソニー)
Sony Semiconductor Manufacturing (略称: Sony)
第16著者 氏名(和/英/ヨミ) 樋山 拓己 / Hiroki Hiyama / ヒヤマ ヒロキ
第16著者 所属(和/英) ソニーセミコンダクタマニュファクチャリング (略称: ソニー)
Sony Semiconductor Manufacturing (略称: Sony)
第17著者 氏名(和/英/ヨミ) 若野 寿史 / Toshifumi Wakano / ワカノ トシフミ
第17著者 所属(和/英) ソニーセミコンダクタソリューションズ (略称: ソニー)
Sony Semiconductor Solutions (略称: Sony)
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講演者 第1著者 
発表日時 2022-03-28 15:40:00 
発表時間 30分 
申込先研究会 IST 
資料番号 IST2022-20 
巻番号(vol) vol.46 
号番号(no) no.14 
ページ範囲 pp.43-46 
ページ数
発行日 2022-03-21 (IST) 


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