Chun-Hsien,Liu; Sheng.,Di.,Lin

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講演名		2022-12-12 14:20 ［ポスター講演］Light-induced reliability issue of NMOS using in CMOS image sensor and single-photon avalanche diode ○Chun-Hsien Liu・Sheng. Di. Lin（Institute of Electronics, NYCU）
抄録	（和）	We present the NMOS reliability issue of increased off-current after white-light illumination. Experimental results suggest that light-induce hot electrons generated interface trap states. Enlarged off-current activated the parasitic bipolar-junction transistor. This reliability issue could be prevented with inversion layer forming in channel under a proper bias condition.
	（英）	We present the NMOS reliability issue of increased off-current after white-light illumination. Experimental results suggest that light-induce hot electrons generated interface trap states. Enlarged off-current activated the parasitic bipolar-junction transistor. This reliability issue could be prevented with inversion layer forming in channel under a proper bias condition.
キーワード	（和）	light-induced reliability / parasitic BJT action / CMOS image sensor / single-photon avalanche diode (SPAD) / transistor degradation / / /
	（英）	light-induced reliability / parasitic BJT action / CMOS image sensor / single-photon avalanche diode (SPAD) / transistor degradation / / /
文献情報		映情学技報, vol. 46, no. 41, IST2022-52, pp. 39-40, 2022年12月.
資料番号		IST2022-52
発行日		2022-12-05 (IST)
ISSN		Print edition: ISSN 1342-6893 Online edition: ISSN 2424-1970
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研究会情報
研究会	IST
開催期間	2022-12-12 - 2022-12-13
開催地（和）	Sanaru Hall
開催地（英）	Sanaru Hall
テーマ（和）	5th International Workshop on Image Sensors and Imaging Systems (IWISS2022)
テーマ（英）	5th International Workshop on Image Sensors and Imaging Systems (IWISS2022)
講演論文情報の詳細
申込み研究会	IST
会議コード	2022-12-IST
本文の言語	英語
タイトル（和）
サブタイトル（和）
タイトル（英）	Light-induced reliability issue of NMOS using in CMOS image sensor and single-photon avalanche diode
サブタイトル（英）
キーワード(1)（和/英）	light-induced reliability / light-induced reliability
キーワード(2)（和/英）	parasitic BJT action / parasitic BJT action
キーワード(3)（和/英）	CMOS image sensor / CMOS image sensor
キーワード(4)（和/英）	single-photon avalanche diode (SPAD) / single-photon avalanche diode (SPAD)
キーワード(5)（和/英）	transistor degradation / transistor degradation
キーワード(6)（和/英）	/
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キーワード(8)（和/英）	/
第1著者氏名（和/英/ヨミ）	Chun-Hsien Liu / Chun-Hsien Liu /
第1著者所属（和/英）	Institute of Electronics, National Yang Ming Chiao Tung Universi (略称： Institute of Electronics, NYCU) Institute of Electronics, National Yang Ming Chiao Tung Universi (略称： Institute of Electronics, NYCU)
第2著者氏名（和/英/ヨミ）	Sheng. Di. Lin / Sheng. Di. Lin /
第2著者所属（和/英）	Institute of Electronics, National Yang Ming Chiao Tung Universi (略称： Institute of Electronics, NYCU) Institute of Electronics, National Yang Ming Chiao Tung Universi (略称： Institute of Electronics, NYCU)
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講演者	第1著者
発表日時	2022-12-12 14:20:00
発表時間	90分
申込先研究会	IST
資料番号	IST2022-52
巻番号（vol）	vol.46
号番号（no）	no.41
ページ範囲	pp.39-40
ページ数	2
発行日	2022-12-05 (IST)

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