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研究会
発表日時
開催地
タイトル・著者
抄録
資料番号
IST
2010-09-27
13:00
東京
機械振興会館
[記念講演]特別企画「CCD誕生40周年記念講演-黎明期-」
○
越智成之
CCD開発に影響を及ぼした,1920年代からの技術動向や社会情勢を背景に,1969年から約20年間に渡り,CCDの技術開...
[more]
IST2010-42
pp.1-8
IST
2010-09-27
13:45
東京
機械振興会館
[招待講演]マルチコア利用技術 ~ ドメイン分離とユーザ利用状況に応じたリソース配分 ~
○
枝廣正人
(
NEC
)
[more]
IST2010-43
pp.9-12
IST
2010-09-27
14:45
東京
機械振興会館
[記念講演][CCD誕生40周年記念講演] イメージセンサの世界における日本 ~ 日本が果たしてきた役割と歴史から学ぶこと ~
○
黒田隆男
(
パナソニック
)
世界のイメージセンサの始まりの技術を概観した上で、日本の黎明期の技術推移を振り返る。その中のポイントと思われる事例につい...
[more]
IST2010-44
pp.13-20
IST
2010-09-27
15:30
東京
機械振興会館
微細CMOSの多層配線における光学特性の評価
○
池田 誠
(
東大
)
[more]
IST2010-45
pp.21-24
IST
2010-09-27
16:00
東京
機械振興会館
65nm CMOSプロセスを用いた偏光計測イメージセンサの性能向上
○
宍戸三四郎
・
野田俊彦
・
笹川清隆
・
徳田 崇
・
太田 淳
(
奈良先端大
)
[more]
IST2010-46
pp.25-28
IST
2010-09-27
16:30
東京
機械振興会館
RTN測定の高精度・高速化技術とRTN特性に強い影響度を示すプロセス条件
○
阿部健一
・
寺本章伸
・
須川成利
・
大見忠弘
(
東北大
)
先進CMOSイメージセンサにおける課題のひとつとなっているRandom Telegraph Noise(RTN)について...
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IST2010-47
pp.29-32
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