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 7件中　1～7件目  /   
研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
IEE-CMN, BCT
(共催)
IEICE-OCS, IEICE-OFT
(併催)
(連催) ※学会内は併催 [詳細]		 2023-11-10
10:35		 京都 YIC京都
（ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催）		 低コヒーレンスBOCDRに基づく高精度な歪分布測定：シミュレーションと実験的検証
○大坪謙太・朱　光韜・清住空樹（横浜国大）・高橋　央（横浜国大/NTT）・古敷谷優介（NTT）・水野洋輔（横浜国大） 		光ファイバに沿った歪や温度の分布を測定する技術として、ブリルアン散乱に伴う周波数シフトの歪や温度に対する依存性を利用した... [more]
IST 2018-03-09
12:00		 東京 NHK 放送技術研究所講堂 ［招待講演］画素/DRAM/Logic 3層積層CMOSイメージセンサ技術
○津川英信・高橋　洋・中邑良一・梅林　拓・荻田知治・岡野仁志・岩瀬和也・川島寛之・山崎孝次・米山大輔・橋爪　淳・中島　務・村田顕一・金石芳和・池田健児・田谷圭司・中山　創・春田　勉・野本哲夫（ソニー） 		 [more] IST2018-17
pp.25-29
IST 2017-03-10
13:20		 東京 ＮＨＫ放送技術研究所講堂 A 1/2.3in 20Mpixel 3-Layer Stacked CMOS Image Sensor with DRAM
春田　勉・○中島　務・橋爪　淳・梅林　拓・高橋　洋・谷口一雄・黒田真実・住広　博・榎　弘二（ソニーセミコンダクタソリューションズ）・山崎孝次（ソニーセミコンダクタマニュファクチャリング）・池澤勝也・北原　淳・全　真生・大山将史・古賀洋貴（ソニーセミコンダクタソリューションズ） 		 [more] IST2017-13
pp.19-22
BCT, IEE-CMN
(連催)
IEICE-OFT, IEICE-OCS
(併催) [詳細]		 2016-11-11
13:10		 長崎 長崎商工会議所 (長崎市) 周波数掃引パルスによるブリルアン散乱を利用した動的歪測定
○鬼頭千尋・高橋　央・戸毛邦弘・真鍋哲也（NTT） 		 [more]
IEICE-OFT, IEICE-OCS
(連催)
BCT, IEE-CMN
(連催) [詳細]		 2015-11-13
13:25		 愛媛 松山市民会館 線形周波数掃引ポンプパルスによる分岐下部試験技術
○高橋　央・鬼頭千尋・戸毛邦弘・真鍋哲也（NTT） 		(事前公開アブストラクト) PONの分岐下部ファイバの損失分布試験可能な方法として、遠端反射ブリルアン測定法を提案してい... [more]
IEICE-OCS, IEICE-OFT
(共催)
BCT, IEE-CMN
(連催) [詳細]		 2014-11-13
15:40		 広島 NHK広島放送局 断線故障モニタリングに対する遠端反射ブリルアン解析法の適用性
○鬼頭千尋・高橋　央・戸毛邦弘・真鍋哲也（NTT）・伊藤文彦（島根大） 		 [more]
IST 2014-03-14
11:30		 東京 NHK放送技術研究所 3次元積層型CMOSイメージセンサ
梅林　拓・○荻田知治・助川俊一・中島　務・河野邉　宏（ソニー）・小関　賢（ソニーエルエスアイデザイン）・春田　勉・高橋　洋（ソニー）・井上啓司（ソニーセミコンダクタ）・若野寿史・馬田祐輔・福元康司・永野隆史・新田嘉一・平山照峰（ソニー） 		裏面照射型イメージセンサの支持基板の代わりにロジック基板をThrough Silicon Via (TSV) で3次元積... [more] IST2014-9
p.5
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