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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
IST 2022-12-12
14:20
静岡 Sanaru Hall [ポスター講演]An area efficient readout circuit for CMOS Image Sensor With Lateral Overflow Integration Capacitor
Ai OtaniHiroaki OgawaRitsumeikan Univ.)・Ken MiyauchiSangman HanHideki OwadaIsao TakayanagiBrillnics)・Shunsuke OkuraRitsumeikan Univ.
 [more] IST2022-53
pp.41-42
IEICE-SDM, IEICE-ICD
(共催)
IST
(連催) [詳細]
2021-08-18
16:00
ONLINE オンライン開催 LOFIC型CMOSイメージセンサに用いる小面積読み出し回路
大谷 愛大倉俊介立命館大)・宮内 健韓 相萬大和田英樹高柳 功ブリルニクス
HDRイメージセンサを実現するLOFICは低変換利得(LCG)と高変換利得(HCG)における信号をそれぞれ高い飽和信号と... [more] IST2021-46
pp.103-107
IST 2016-03-11
10:10
東京 NHK技研講堂 マルチタップラテラル電界制御型電荷変調素子を用いたCMOS TOF 距離画像センサ
春日井太一韓 相萬ハン チャン高澤大志静岡大)・青山 聡ブルックマンテクノロジ)・安富啓太香川景一郎川人祥二静岡大
本稿では,埋め込みフォトダイオードの高速ロックインピクセルを使用した4タップのラテラル電界(LEF)制御型電荷変調素子を... [more] IST2016-9
pp.9-12
IST 2015-05-08
13:10
東京 東京理科大学 森戸記念館 [ポスター講演]大面積高速フォトダイオードによる複数タップロックイン画素を用いたTOF距離画像センサ
ハン チャン春日井太一韓 相萬安富啓太香川景一郎川人祥二静岡大
ロックイン画素において,フォトダイオードで発生した光電子を複数の電荷変調部に高速に転送するために,単位のロックイン素子を... [more] IST2015-27
pp.13-16
IST 2014-06-02
14:20
東京 東京理科大学 森戸記念館 [ポスター講演]横方向電界制御型電荷変調画素の特性評価
春日井太一安富啓太韓 相萬寺西信一香川景一郎川人祥二静岡大
我々は,時間分解イメージングのための高速電荷変調が可能なロックインピクセルとして,横方向電界制御型電荷変調画素(LEFM... [more] IST2014-7
pp.25-28
IST 2014-03-14
15:40
東京 NHK放送技術研究所 サブミリメータ分解能およびカラムスキュー補正機能を有するTime-of-Flight距離イメージセンサ
安富啓太臼井隆弘韓 相萬髙澤大志香川景一郎川人祥二静岡大
 [more] IST2014-14
pp.23-26
IST 2014-03-14
16:10
東京 NHK放送技術研究所 画素内背景光キャンセル機能を有する横電界制御型ToF距離画像センサ
韓 相萬高澤大志静岡大)・赤堀知行ブルックマン テクノロジ)・安富啓太香川景一郎川人祥二静岡大
 [more] IST2014-15
pp.27-30
IST 2013-09-30
14:00
東京 機械振興会館 サブミリメータ分解能を有するTime-of-Flight距離画像センサのための新変調方式の提案
安富啓太臼井隆弘韓 相萬児玉雅俊高澤大志香川景一郎川人祥二静岡大
 [more] IST2013-45
pp.13-16
IST 2013-05-31
10:35
東京 埼玉大学東京ステーションカレッジ 時間分解型イメージセンサのための側壁電界制御ロックインピクセルの検討
ベク グスル韓 相萬マース カメル安富啓太香川景一郎川人祥二静岡大
 [more] IST2013-16
pp.5-8
IST 2013-05-31
11:00
東京 埼玉大学東京ステーションカレッジ 排出制御型高速電荷変調画素を用いたTOF距離画像センサ
韓 相萬安富啓太香川景一郎川人祥二静岡大
 [more] IST2013-17
pp.9-11
IST 2013-05-31
13:00
東京 埼玉大学東京ステーションカレッジ [ポスター講演]大規模多点蛍光相関分光計測のための横電界制御電荷変調方式画素の設計
閨 宏司香川景一郎徐 ?雄韓 相萬安富啓太川人祥二静岡大
細胞内の生体分子相互反応や輸送の解明のために,蛍光相関分光法による多点計測の実現が望まれている.本研究では,大規模多点計... [more] IST2013-20
pp.21-24
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